带强制脱扣保险装置的新型永磁接触器研究
摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第12-18页 |
1 论文研究背景和意义 | 第12-13页 |
2 永磁接触器的结构分类 | 第13-15页 |
2.1 单稳态结构模型 | 第13页 |
2.2 双稳态结构模型 | 第13-14页 |
2.3 分离磁路结构模型 | 第14-15页 |
3 国内外研究现状分析 | 第15-17页 |
4 研究内容和文章章节 | 第17-18页 |
4.1 研究内容 | 第17页 |
4.2 论文章节 | 第17-18页 |
第二章 强制分断机构的设计与研究 | 第18-44页 |
1 永磁接触器系统结构模型 | 第18-19页 |
2 强制脱扣保险装置的 3D建模 | 第19-20页 |
3 多目标非线性约束的遗传优化算法 | 第20-21页 |
3.1 遗传算法简介 | 第20-21页 |
3.2 遗传算法求解步骤 | 第21页 |
4 永磁机构多目标遗传算法动态优化 | 第21-32页 |
4.1 优化数学模型 | 第21-22页 |
4.2 弹簧可靠性优化设计 | 第22-32页 |
5 操动机构多目标优化设计的数值实现 | 第32-42页 |
5.1 优化变量的选择 | 第32页 |
5.2 吸合过程优化 | 第32-39页 |
5.3 分断过程的优化 | 第39-42页 |
6 本章小结 | 第42-44页 |
第三章 正常分合闸智能控制电路设计 | 第44-58页 |
1 正常分断智能控制电路总体结构 | 第44-45页 |
2 电源模块设计 | 第45-46页 |
2.1 电源模块总体结构图 | 第45页 |
2.2 电源电路设计 | 第45-46页 |
2.3 三极管稳压电路设计 | 第46页 |
3 电路元件的选型 | 第46-52页 |
3.1 微处理器的选型 | 第46页 |
3.2 51系列 | 第46-47页 |
3.3 STM32系列 | 第47页 |
3.4 AVR单片机 | 第47-48页 |
3.5 ATtiny13引脚配置 | 第48-49页 |
3.6 ATtiny13主要特性 | 第49-51页 |
3.7 AVR中的A/D采样模块 | 第51页 |
3.8 其他元件选型 | 第51-52页 |
4 正常分合闸智能控制电路的实现 | 第52-53页 |
5 电路控制逻辑中的软件设计 | 第53-55页 |
5.1 电路的控制逻辑 | 第53-54页 |
5.2 程序设计 | 第54-55页 |
6 本章小结 | 第55-58页 |
第四章 强制分断控制系统的硬件设计与实现 | 第58-72页 |
1 强制分断系统的硬件模块总体结构 | 第58-59页 |
2 电源控制模块设计 | 第59-63页 |
2.1 电源模块结构 | 第59-60页 |
2.2 电源电路设计 | 第60-61页 |
2.3 电源模块内部电路与元件选型 | 第61-63页 |
3 电压检测模块设计 | 第63-64页 |
4 逻辑控制模块设计 | 第64-67页 |
4.1 CMOS反相器 | 第64-65页 |
4.2 或门电路 | 第65-66页 |
4.3 RC延时电路 | 第66-67页 |
4.4 延时电路中的延时时间及延时电容确定 | 第67页 |
5 控制逻辑设计 | 第67-69页 |
5.1 控制逻辑结构 | 第67-68页 |
5.2 逻辑控制电路设计方法: | 第68-69页 |
6 本章小结 | 第69-72页 |
第五章 实验设计与结果分析 | 第72-80页 |
1 吸合控制实验 | 第72-73页 |
2 强制分断保护实验 | 第73-75页 |
3 分断特性对比测试 | 第75-76页 |
4 强制分断电路的稳定性测试 | 第76-78页 |
4.1 试验程序设计 | 第76-77页 |
4.2 实验测试 | 第77-78页 |
5 能耗分析 | 第78-79页 |
6 本章小结 | 第79-80页 |
第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
1 总结 | 第80-81页 |
2 展望 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-86页 |
致谢 | 第86-88页 |
攻读学位期间发表的学术论文及专利 | 第88页 |