| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 谐波的定义与分类 | 第15页 |
| 1.2 谐波的来源与危害 | 第15-16页 |
| 1.3 谐波检测的作用与意义 | 第16页 |
| 1.4 谐波检测的研究现状 | 第16-18页 |
| 1.4.1 基于FFT的谐波检测方法 | 第16-17页 |
| 1.4.2 基于现代谱估计的谐波检测方法 | 第17页 |
| 1.4.3 基于小波变换的谐波检测方法 | 第17页 |
| 1.4.4 基于神经网络的谐波检测方法 | 第17-18页 |
| 1.5 本文的主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第二章 FFT的算法原理 | 第19-29页 |
| 2.1 离散傅里叶变换 | 第19页 |
| 2.2 快速傅里叶变换 | 第19-21页 |
| 2.2.1 基-2DIT-FFT算法 | 第19-20页 |
| 2.2.2 基-2DIF-FFT算法 | 第20-21页 |
| 2.3 非同步采样对FFT的影响 | 第21页 |
| 2.4 频谱泄漏与栅栏效应 | 第21页 |
| 2.5 窗函数的特性 | 第21-27页 |
| 2.5.1 常用的窗函数 | 第21-24页 |
| 2.5.2 窗函数的选择 | 第24-27页 |
| 2.6 FFT的硬件实现方法 | 第27页 |
| 2.6.1 FPGA实现FFT | 第27页 |
| 2.6.2 IP核与FFT IP核简介 | 第27页 |
| 2.7 本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 加窗多谱线插值FFT算法 | 第29-54页 |
| 3.1 加窗双谱线插值FFT算法的算法原理 | 第29-30页 |
| 3.2 基于加4项5阶Nuttall窗双谱线插值FFT算法的谐波检测方法 | 第30-32页 |
| 3.2.1 4项5阶Nuttall窗 | 第30-31页 |
| 3.2.2 加4项5阶Nuttall窗双谱线插值FFT算法 | 第31-32页 |
| 3.3 双谱线插值的复杂谐波信号仿真分析 | 第32-37页 |
| 3.3.1 几种窗函数的双谱线插值7阶逼近式 | 第32-33页 |
| 3.3.2 双谱线插值的仿真分析 | 第33-37页 |
| 3.4 双谱线插值在基频变动下的仿真分析 | 第37-39页 |
| 3.5 双谱线插值在白噪声影响下的仿真分析 | 第39-42页 |
| 3.6 加4项5阶Nuttall窗三谱线插值FFT算法的算法原理 | 第42-43页 |
| 3.7 三谱线插值的复杂谐波信号仿真分析 | 第43-48页 |
| 3.7.1 几种窗函数的三谱线插值7阶逼近式 | 第43-44页 |
| 3.7.2 三谱线插值的仿真分析 | 第44-48页 |
| 3.8 三谱线插值在基频变动下的仿真分析 | 第48-49页 |
| 3.9 三谱线插值在白噪声影响下的仿真分析 | 第49-52页 |
| 3.10 本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 加窗相位差FFT算法 | 第54-68页 |
| 4.1 加4项 5 阶Nuttall窗相位差FFT算法的算法原理 | 第54-55页 |
| 4.2 加窗相位差FFT算法的复杂谐波信号仿真分析 | 第55-58页 |
| 4.3 加窗相位差FFT算法在基频变动下的仿真分析 | 第58-60页 |
| 4.4 加窗相位差FFT算法在白噪声影响下的仿真分析 | 第60-63页 |
| 4.5 加窗相位差FFT算法的复杂间谐波信号仿真分析 | 第63-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 基于FFT IP核的谐波检测方法 | 第68-73页 |
| 5.1 Quartus Ⅱ中原理图的各个模块的编写 | 第68-70页 |
| 5.1.1 FFT IP模块 | 第68页 |
| 5.1.2 FFT IP核的时序控制模块 | 第68-69页 |
| 5.1.3 ROM模块 | 第69页 |
| 5.1.4 RAM模块和计数器模块 | 第69-70页 |
| 5.1.5 幅值计算模块 | 第70页 |
| 5.2 FFT IP核的ModelSim仿真 | 第70-71页 |
| 5.3 FFT IP核的ModelSim仿真结果分析 | 第71-72页 |
| 5.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 结论与展望 | 第73-76页 |
| 6.1 结论 | 第73-75页 |
| 6.2 展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第80-81页 |
