摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·电阻抗成像技术的研究意义 | 第8-9页 |
·电阻抗成像技术的研究现状 | 第9-14页 |
·电阻抗成像技术的国内外研究现状 | 第9-11页 |
·电阻抗成像技术的研究方法 | 第11-12页 |
·电阻抗成像技术中主要的问题和难点 | 第12-14页 |
·本文所做的工作 | 第14页 |
·本文的具体安排 | 第14-16页 |
第二章 电阻抗成像技术的理论基础 | 第16-31页 |
·EIT正问题的研究 | 第17-22页 |
·正问题的数学模型 | 第17-19页 |
·正问题的求解 | 第19-22页 |
·EIT反问题的研究 | 第22-26页 |
·反问题病态性研究 | 第22-26页 |
·EIT的反问题 | 第26页 |
·传统Tikhonov正则化 | 第26-30页 |
·线性反问题的Tikhonov正则化求解 | 第27-28页 |
·非线性反问题的Tikhonov正则化求解 | 第28-29页 |
·EIT中的Tikhonov正则化问题研究 | 第29-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第三章 EIT图像重构算法 | 第31-45页 |
·等位线发投影算法 | 第31-33页 |
·Landweber类迭代算法 | 第33-36页 |
·Landweber算法理论基础 | 第33-34页 |
·EIT中的Landweber图像重构算法 | 第34-36页 |
·共轭梯度类算法 | 第36-38页 |
·共轭梯度算法的理论基础 | 第36-37页 |
·共轭梯度算大的实现 | 第37-38页 |
·牛顿-拉弗逊迭代算法简介 | 第38-40页 |
·牛顿-拉弗逊迭代算法的理论基础 | 第38-39页 |
·牛顿-拉弗逊迭代算法的具体数学实现 | 第39-40页 |
·Matlab仿真实验与结果分析 | 第40-43页 |
·其他EIT算法 | 第43-44页 |
·本章小结 | 第44-45页 |
第四章 基于全变差的优化正则化算法 | 第45-56页 |
·关于变差函数的数学描述 | 第45-48页 |
·全变差正则化算法 | 第48-49页 |
·两步迭代阈值算法(Tw-IST) | 第49-52页 |
·迭代收缩阈值算法(Iterative Shrinkage/Thresholding, IST) | 第49-50页 |
·加权迭代收缩算法(Iterative Re-Weighted Shrinkage,IRS) | 第50-51页 |
·两步迭代收缩阈值算法(Two-Step IST,TwIST) | 第51-52页 |
·EIT问题中的两步迭代收缩阈值算法 | 第52-53页 |
·Matlab仿真实验与结果分析 | 第53-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
第五章 总结与展望 | 第56-57页 |
·本文工作总结 | 第56页 |
·下一步工作 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
附录 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第60-61页 |
致谢 | 第61页 |