| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状与发展方向 | 第10-13页 |
| ·分布式测试国内外发展现状 | 第10-11页 |
| ·以太网技术的国内外发展现状 | 第11-12页 |
| ·数据存储国内外现状 | 第12-13页 |
| ·论文研究内容与章节安排 | 第13-14页 |
| 第二章 基于 UDP/IP 的分布式测试基本理论 | 第14-23页 |
| ·分布式测试系统基本概念 | 第14-16页 |
| ·分布式测试系统基本体系框架 | 第14-15页 |
| ·构建分布式测试节点网络 | 第15-16页 |
| ·测试节点数据传输协议以及实现方法 | 第16-19页 |
| ·基于以太网的分布式测试系统中数据传输协议介绍 | 第16-18页 |
| ·UDP/IP 协议高速数据传输接口的实现方法 | 第18-19页 |
| ·基于 NAND FLASH 大容量存储阵列技术 | 第19-20页 |
| ·位扩展技术 | 第20页 |
| ·分时加载存储技术 | 第20页 |
| ·测试节点的触发技术 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 基于 UDP/IP 协议通用型分布式测试节点总体方案 | 第23-31页 |
| ·测试节点的总体结构 | 第23页 |
| ·测试节点性能指标与选型 | 第23-26页 |
| ·测试范围指标 | 第23-24页 |
| ·测试节点信号模数转换芯片选型 | 第24页 |
| ·测试节点数据存储指标 | 第24-25页 |
| ·测试节点数据回传性能指标 | 第25-26页 |
| ·测试节点设计方案介绍 | 第26-29页 |
| ·测试节点总体设计框图 | 第26-27页 |
| ·前段调理电路设计方案 | 第27页 |
| ·测试节点数据存储方案 | 第27-28页 |
| ·基于 UDP/IP 协议数据传输接口方案 | 第28页 |
| ·测试节点存储触发方案 | 第28-29页 |
| ·测试节点设计重点和难点 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 测试节点的硬件设计与实现 | 第31-39页 |
| ·信号调理电路设计 | 第31-35页 |
| ·电压信号调理电路 | 第31-34页 |
| ·电流信号调理电路 | 第34-35页 |
| ·A/D 模块 MAX1308 外围硬件电路设计 | 第35-36页 |
| ·NAND FLASH 存储阵列硬件电路设计 | 第36页 |
| ·数据回传接口外围电路设计 | 第36-37页 |
| ·电源模块电路图 | 第37-38页 |
| ·时钟模块电路 | 第38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第五章 测试节点的软件设计与实现 | 第39-58页 |
| ·测试节点 NIOS II 嵌入式系统内部功能设计 | 第39-40页 |
| ·测试节点软件功能总体设计 | 第40-42页 |
| ·主控芯片 Qsys 外设和 EDS 软件设计 | 第40-41页 |
| ·测试节点嵌入式系统软件设计流程图 | 第41-42页 |
| ·MAX1308 模数转换控制逻辑 | 第42-44页 |
| ·MAX1308 寄存器配置 | 第42-43页 |
| ·MAX1308 采集与读取数据 | 第43-44页 |
| ·基于 AVALON-MM 总线的 DMA 控制设计 | 第44-53页 |
| ·存储阵列的命令、地址传输方案选择 | 第45-47页 |
| ·建立无效块标识区 | 第47-49页 |
| ·存储阵列 DMA 控制器 IP 核设计 | 第49-51页 |
| ·存储速率计算 | 第51页 |
| ·异步 FIFO 设计 | 第51-53页 |
| ·测试节点触发模块设计 | 第53-55页 |
| ·测试节点高速数据回传接口设计 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 实验结果分析与总结 | 第58-63页 |
| ·模拟信号采集测试实验介绍 | 第58页 |
| ·实验结果分析 | 第58-63页 |
| ·测试数据准确性分析 | 第58-61页 |
| ·数据回传速率测试 | 第61-63页 |
| 总结与展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附录1 分布式测试节点 PCB 原理图 | 第69-70页 |
| 附录2 分布式测试节点实验板实物图 | 第70-71页 |
