| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 1 引言 | 第9-27页 |
| ·基于 X 射线波带片的显微成像的国内外发展现状 | 第9-14页 |
| ·高分辨率 X 射线相衬显微成像及其成像机制分析 | 第14-25页 |
| ·X 射线泽尼克相衬显微成像 | 第15-18页 |
| ·X 射线微分干涉衬度显微成像(X-ray DIC) | 第18-25页 |
| ·本论文的研究内容与结构安排 | 第25-27页 |
| 2 标量衍射过程数值模拟的理论分析 | 第27-53页 |
| ·离散傅里叶变换(DFT)与快速傅里叶变换(FFT) | 第27-41页 |
| ·DFT | 第28-39页 |
| ·FFT | 第39-41页 |
| ·波动光学数值模拟 | 第41-53页 |
| ·菲涅耳衍射理论 | 第42-43页 |
| ·菲涅耳傅里叶变换法 | 第43-46页 |
| ·菲涅耳脉冲响应/传递函数法 | 第46-53页 |
| 3 基于微分复透板的 X 射线纳米分辨微分相衬成像 | 第53-81页 |
| ·成像的原理与分析 | 第54-59页 |
| ·成像系统结构模型 | 第55-57页 |
| ·微分相衬成像的实现原理与理论分析 | 第57-59页 |
| ·波动光学数值成像模拟验证 | 第59-65页 |
| ·微分相衬图像的获取以及可调参数对于成像衬度的干预机制 | 第60-62页 |
| ·边缘增强效应的数值模拟验证 | 第62-65页 |
| ·物体的吸收作用对于微分相衬成像结果的影响 | 第65-72页 |
| ·关于微分成像系统空间分辨能力的相关分析 | 第72-81页 |
| 4 基于微分复透板的微分相衬显微系统中的相位恢复技术 | 第81-99页 |
| ·相位恢复技术的理论实现过程 | 第82-84页 |
| ·数值成像模拟结果的验证支持 | 第84-99页 |
| ·相位微分分布的获取与相关分析 | 第84-90页 |
| ·相位分布的恢复与有关问题的讨论 | 第90-99页 |
| 5 关于微分复透板厚度分布随机误差缺陷的初步分析 | 第99-107页 |
| 6 总结展望 | 第107-111页 |
| 参考文献 | 第111-117页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第117页 |
