| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-14页 |
| ·课题研究背景与研究意义 | 第7-9页 |
| ·课题研究背景 | 第7-8页 |
| ·研究目的 | 第8页 |
| ·研究意义 | 第8-9页 |
| ·TD-LTE终端基带芯片设计与验证发展现状 | 第9-12页 |
| ·TD-LTE终端基带芯片设计研发现状 | 第9-10页 |
| ·TD-LTE终端基带芯片验证研究现状 | 第10-12页 |
| ·本文主要工作 | 第12-14页 |
| 2 芯片验证方案研究 | 第14-21页 |
| ·芯片验证定义及分类 | 第14-16页 |
| ·芯片验证定义 | 第14页 |
| ·芯片验证分类 | 第14-16页 |
| ·FPGA原型验证定义与策略 | 第16-19页 |
| ·FPGA原型验证的定义及意义 | 第16-18页 |
| ·FPGA原型验证策略分类 | 第18-19页 |
| ·功能应用验证策略 | 第19-20页 |
| ·芯片功能应用验证平台的意义 | 第19页 |
| ·芯片功能应用验证平台通用架构 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 3 基于FPGA原型验证的终端基带芯片验证方案 | 第21-28页 |
| ·基于FPGA的终端基带芯片验证策略 | 第21-22页 |
| ·FPGA原型验证平台功能需求分析 | 第22-23页 |
| ·FGPA原型验证平台硬件架构 | 第23-25页 |
| ·FPGA原型验证平台选型 | 第23-24页 |
| ·FPGA原型验证平台功能定义 | 第24-25页 |
| ·FPGA仿真与波形分析 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 4 基于TD-LTE终端基带芯片的功能应用验证平台设计 | 第28-59页 |
| ·芯片功能应用验证平台功能定义 | 第29页 |
| ·芯片功能应用验证平台硬件架构 | 第29-30页 |
| ·硬件电路设计与实现 | 第30-49页 |
| ·电源管理单元设计 | 第30-31页 |
| ·时钟单元设计 | 第31-34页 |
| ·FLASH存储单元设计 | 第34-38页 |
| ·SDRAM存储单元设计 | 第38-41页 |
| ·FPGA单元设计 | 第41-48页 |
| ·其余单元设计 | 第48-49页 |
| ·高速电路仿真及信号完整性分析 | 第49-58页 |
| ·信号完整性定义 | 第49-50页 |
| ·信号完整性仿真软件 | 第50-52页 |
| ·时钟总线仿真 | 第52-54页 |
| ·EMI总线信号仿真 | 第54-57页 |
| ·系统布局与布板 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 系统调试与测试 | 第59-66页 |
| ·功能应用验证平台基本功能测试 | 第59-62页 |
| ·电源管理模块性能测试 | 第59-60页 |
| ·时钟模块性能测试 | 第60页 |
| ·CPU核综合功能测试与验证 | 第60-61页 |
| ·DSP核综合功能测试与验证 | 第61-62页 |
| ·系统联合演示 | 第62-66页 |
| ·下行链路测试 | 第63-64页 |
| ·上行链路测试 | 第64-66页 |
| 总结与展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |