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AlGaN基p-i-n型日盲紫外探测器结构材料的生长与表征

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
1 绪论第10-15页
   ·研究背景及意义第10-12页
   ·国内外研究状况第12-14页
   ·论文的组织与结构第14-15页
2 AlGaN-MOCVD 生长系统与材料表征方法第15-28页
   ·AlGaN-MOCVD 系统第15-18页
   ·MOCVD 外延生长原理介绍第18-19页
   ·日盲探测器 MOCVD 生长工艺第19-21页
   ·AlGaN 测试设备与表征方法第21-27页
   ·本章小结第27-28页
3 高 Al 组分 AlGaN 的生长及 n 型掺杂研究第28-44页
   ·AlN 缓冲层的生长第28-31页
   ·低 Al 组分0.3~0.4AlGaN 的 n 型掺杂第31-39页
   ·高 Al 组分0.4~0.65AlGaN 的 n 型掺杂第39-42页
   ·本章小结第42-44页
4 窗口层对 n-AlGaN 的影响研究第44-53页
   ·窗口层对 n-Al0.4Ga0.6N 的晶体质量的影响第44-51页
   ·窗口层对 n-Al0.4Ga0.6N 的电学特性的影响第51-52页
   ·本章小结第52-53页
5 AlGaN 基 p-i-n 型日盲紫外探测器全结构材料生长第53-62页
   ·p 型 GaN 材料的 MOCVD 生长及其优化第53-58页
   ·日盲紫外探测器全结构的生长与测试第58-61页
   ·本章小结第61-62页
6 总结与展望第62-64页
   ·本实验工作总结第62-63页
   ·实验展望第63-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-72页
附录 1 攻读学位期间发表论文目录第72页

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