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红外探测系统杂散辐射的分析与抑制技术研究

摘要第1-4页
Abstract第4-9页
第一章 绪论第9-21页
   ·研究的目的与意义第9-10页
   ·国内外研究发展现状第10-15页
     ·国内外研究状况第10-13页
     ·杂散辐射的研究方法第13-15页
   ·论文的研究内容第15-17页
 参考文献第17-21页
第二章 红外探测系统杂散辐射的数理模型第21-48页
   ·杂散辐射研究相关的概念第21-37页
     ·双向散射分布函数第21-30页
     ·能量传递计算公式第30-36页
     ·杂散辐射的评价指标第36-37页
   ·杂散辐射分析的步骤第37-39页
   ·杂散辐射的计算方法第39-41页
     ·蒙特卡洛方法第39-40页
     ·区域法第40-41页
   ·杂散辐射研究的数理模型第41-45页
     ·杂散辐射的来源与分类第41-42页
     ·系统外部杂散辐射的数理模型第42-44页
     ·系统内部热杂散辐射的数理模型第44-45页
   ·小结第45-46页
 参考文献第46-48页
第三章 红外探测系统杂散辐射特性分析第48-70页
   ·空间目标的特性分析第48-53页
     ·空间目标辐射特性第48-50页
     ·空间目标的热平衡温度第50-53页
   ·天基红外探测系统的杂散辐射特性第53-57页
     ·地气热杂散辐射第54-57页
     ·镜组热杂散辐射第57页
     ·外层空间背景辐射第57页
   ·地基红外探测系统的杂散辐射特性第57-68页
     ·太阳杂散辐射第57-59页
     ·天空背景杂散辐射第59-64页
     ·大气传输效应第64-68页
   ·小结第68页
 参考文献第68-70页
第四章 红外探测系统杂散辐射抑制技术的研究第70-91页
   ·红外探测系统的设计第70-73页
   ·杂散辐射抑制结构的优化设计第73-83页
     ·遮光罩的设计及计算第73-77页
     ·挡光环的设计及计算第77-80页
     ·光阑的设计第80-83页
   ·杂散辐射抑制表面特性的分析第83-89页
     ·探测系统内表面涂层第84-87页
     ·改进表面平滑度的镀膜第87页
     ·表面污染的控制第87-89页
   ·小结第89页
 参考文献第89-91页
第五章 红外探测系统杂散辐射的仿真与结果分析第91-106页
   ·仿真模型的建立第91-93页
     ·表面的散射特性第92页
     ·重点采样技术第92-93页
   ·仿真及结果分析第93-101页
     ·PST曲线第94-95页
     ·热杂散辐射的仿真第95-101页
   ·杂散辐射软件仿真误差分析第101-104页
   ·小结第104页
 参考文献第104-106页
第六章 杂散辐射对红外探测系统探测能力的影响分析第106-121页
   ·红外探测系统的噪声组成第106-107页
   ·红外探测系统的探测能力分析第107-112页
     ·目标星等数第107-108页
     ·信噪比的计算第108-112页
   ·红外探测系统的噪声限分析第112-117页
     ·热像仪噪声等效光电子数第112-114页
     ·天空背景等效光电子数第114-115页
     ·太阳杂散辐射等效光电子数第115-116页
     ·热杂散辐射等效光电子数第116-117页
   ·热像仪噪声限下对系统温度的要求第117-118页
     ·温度绝对值的要求第117页
     ·温度稳定性的要求第117-118页
   ·热杂散辐射噪声对信噪比的影响分析第118-119页
   ·小结第119页
 参考文献第119-121页
第七章 论文的总结与展望第121-123页
攻读博士期间发表的论文第123-124页
致谢第124-125页

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