工业X射线检测图像处理关键技术研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-18页 |
| ·课题背景及问题的提出 | 第9-14页 |
| ·无损检测技术 | 第9-10页 |
| ·射线检测技术的种类 | 第10-13页 |
| ·问题的提出 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-17页 |
| ·X 射线检测图像处理技术发展现状 | 第14-15页 |
| ·X 射线检测图像处理技术新进展 | 第15-17页 |
| ·研究目的及内容安排 | 第17-18页 |
| ·研究目的 | 第17页 |
| ·内容安排 | 第17-18页 |
| 2 工业 X 射线检测图像质量控制 | 第18-27页 |
| ·X 射线检测图像格式选择 | 第18-21页 |
| ·X 射线检测系统的硬件组成 | 第18页 |
| ·图像文件格式介绍 | 第18-21页 |
| ·X 射线检测图像格式选择 | 第21页 |
| ·X 射线检测图像分辨率影响因素 | 第21-26页 |
| ·X 射线束的影响 | 第22-24页 |
| ·图像增强器及数字化部分的影响 | 第24-25页 |
| ·提高X 射线检测图像分辨率的方法 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 工业 X 射线检测图像预处理 | 第27-35页 |
| ·图像噪声去除 | 第27-30页 |
| ·模板运算 | 第27-29页 |
| ·中值滤波 | 第29-30页 |
| ·图像对比度增强 | 第30-34页 |
| ·分段线性灰度变换 | 第30-31页 |
| ·非线性灰度变换 | 第31-32页 |
| ·直方图均衡化 | 第32-33页 |
| ·模糊增强 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 4 工业 X 射线检测缺陷分割 | 第35-43页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·基于边缘检测的缺陷分割 | 第35-39页 |
| ·一阶微分算子分割 | 第35-37页 |
| ·基于模板操作的分割 | 第37页 |
| ·二阶微分算子分割 | 第37-39页 |
| ·基于阈值选取的缺陷分割 | 第39-42页 |
| ·最佳阈值分割 | 第39页 |
| ·自适应阈值分割 | 第39-40页 |
| ·最大类间方差法 | 第40-41页 |
| ·一维最大熵阈值分割 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 5 工业 X 射线检测缺陷测量 | 第43-60页 |
| ·X 射线检测缺陷影像特征分析 | 第43-45页 |
| ·常见铸件缺陷影像特征 | 第43-44页 |
| ·常见焊件缺陷影像特征 | 第44-45页 |
| ·缺陷标记 | 第45-46页 |
| ·缺陷跟踪及缺陷填充算法设计 | 第46-51页 |
| ·多缺陷跟踪算法设计 | 第46-48页 |
| ·多缺陷跟踪程序实现 | 第48-49页 |
| ·多缺陷填充算法设计 | 第49页 |
| ·多缺陷填充程序实现 | 第49-51页 |
| ·特征参数计算算法设计 | 第51-56页 |
| ·缺陷周长、面积的计算 | 第51-54页 |
| ·缺陷长轴、短轴的计算 | 第54-55页 |
| ·链码数的计算 | 第55-56页 |
| ·X 射线检测缺陷识别初探 | 第56-58页 |
| ·X 射线检测缺陷识别方法 | 第56-57页 |
| ·决策树方法识别缺陷 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 6 工业 X 射线检测图像处理系统简介 | 第60-67页 |
| ·工业X 射线检测图像处理系统功能介绍 | 第60-62页 |
| ·工业X 射线检测图像处理系统功能框图 | 第60页 |
| ·工业X 射线检测图像处理子系统功能 | 第60-62页 |
| ·工业X 射线检测图像处理实例分析 | 第62-67页 |
| 7 结论 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 附录：攻读硕士学位期间发表的论文 | 第71-72页 |
| 独创性声明 | 第72页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第72页 |
