介质内100keV-2 MeV中子能谱测量技术研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1.引言 | 第9-13页 |
·研究介质内低能中子能谱测量技术的意义 | 第9页 |
·中子能谱测量技术概况 | 第9-12页 |
·飞行时间法和Bonner球谱仪 | 第9-10页 |
·阈探测器法 | 第10页 |
·半导体探测器 | 第10页 |
·闪烁探测器 | 第10-11页 |
·含氢正比管 | 第11-12页 |
·本文研究的主要工作 | 第12页 |
·小结 | 第12-13页 |
2.计数管伏特性能的测试 | 第13-18页 |
·气体探测器探测原理 | 第13-14页 |
·球形含氢正比计数管的研制 | 第14页 |
·坪曲线和倍增因子 | 第14-16页 |
·能量分辨 | 第16-17页 |
·小结 | 第17-18页 |
3.响应函数的计算 | 第18-29页 |
·蒙特卡罗方法概述 | 第18-21页 |
·物理原理 | 第21-22页 |
·壁效应 | 第22-24页 |
·SRIM程序概要 | 第23页 |
·质子射程计算 | 第23-24页 |
·电场效应 | 第24-26页 |
·ANSYS软件简介 | 第24-25页 |
·电场计算 | 第25-26页 |
·程序框图 | 第26-27页 |
·模拟结果 | 第27-28页 |
·小结 | 第28-29页 |
4.能量响应和各向异性刻度 | 第29-39页 |
·加速器中子源原理 | 第29-31页 |
·加速器中子源 | 第31-32页 |
·实验测量 | 第32-37页 |
·能量响应刻度 | 第32-36页 |
·各向异性测量 | 第36-37页 |
·能量刻度 | 第37-38页 |
·小结 | 第38-39页 |
5.解谱 | 第39-46页 |
·逆矩阵 | 第39-40页 |
·最小二乘法 | 第40-43页 |
·高能本底处理 | 第43页 |
·中子谱 | 第43-45页 |
·不确定度分析 | 第45页 |
·小结 | 第45-46页 |
6.总结 | 第46-48页 |
·主要研究成果 | 第46页 |
·有待继续解决的问题 | 第46-48页 |
参考文献 | 第48-52页 |
在学期间的研究成果 | 第52-53页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第52页 |
获奖情况 | 第52-53页 |
致谢 | 第53-54页 |
附录 | 第54-57页 |