基于光斑图像分析的光盘驱动器头盘准直系统研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 1 绪言 | 第11-24页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·激光头盘准直技术综述 | 第12-16页 |
| ·生产线上的头盘准直度测量技术概述 | 第12-13页 |
| ·“光盘国家工程研究中心”头盘准直度测量技术概述 | 第13-15页 |
| ·PSD 头盘准直度测量方案概述 | 第15-16页 |
| ·基于CCD 图像分析的头盘准直度测量方案 | 第16-17页 |
| ·CCD 方案中相关图像处理技术概述 | 第17-22页 |
| ·矩技术概述 | 第17-19页 |
| ·Hough 变换技术概述 | 第19-21页 |
| ·数学形态学图像处理技术概述 | 第21-22页 |
| ·课题来源及内容安排 | 第22-24页 |
| 2 基于CCD 图像分析的头盘准直方案 | 第24-38页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·激光头与激光光斑 | 第24-28页 |
| ·激光头解析 | 第24-26页 |
| ·激光光斑 | 第26-28页 |
| ·激光头盘准直度检测函数 | 第28-33页 |
| ·中心光线光路追迹及其偏移量计算函数 | 第29-30页 |
| ·光斑光路追迹及其偏移量计算函数 | 第30-31页 |
| ·激光头盘准直度检测函数 | 第31-33页 |
| ·基于CCD 图像分析的头盘准直系统设计方案 | 第33-37页 |
| ·光斑图像增强及特征分析 | 第34-35页 |
| ·激光头-CCD 相机准直 | 第35-36页 |
| ·激光头盘准直 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 3 激光光斑图像增强处理 | 第38-65页 |
| ·引言 | 第38-39页 |
| ·基于PCA 的缺陷像素识别 | 第39-45页 |
| ·特征图像 | 第40-41页 |
| ·缺陷像素的识别 | 第41-42页 |
| ·试验分析与展望 | 第42-45页 |
| ·光斑图像的高斯盲噪声方差估计 | 第45-58页 |
| ·图像增强算法 | 第45-48页 |
| ·高斯盲噪声方差估计 | 第48-53页 |
| ·试验与分析 | 第53-58页 |
| ·光斑图像的增强处理 | 第58-63页 |
| ·光斑图像降噪增强处理 | 第58-61页 |
| ·缺陷像素的补偿 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 4 激光光斑图像特征分析 | 第65-87页 |
| ·引言 | 第65页 |
| ·光斑图像的分割处理 | 第65-70页 |
| ·基于灰度阈值的图像分割 | 第65-67页 |
| ·基于灰度阈值的光斑图像分割 | 第67-70页 |
| ·光斑图像特征衍射线的提取 | 第70-76页 |
| ·光斑图像的细化处理 | 第71-72页 |
| ·光斑图像特征衍射线的提取 | 第72-73页 |
| ·试验与分析 | 第73-76页 |
| ·混合算法下圆形光斑中心检测 | 第76-86页 |
| ·圆形光斑中心区域检测 | 第77-78页 |
| ·圆形光斑边缘检测 | 第78-80页 |
| ·圆形光斑中心检测 | 第80-84页 |
| ·试验与分析 | 第84-86页 |
| ·本章小结 | 第86-87页 |
| 5 激光头盘准直度测量系统 | 第87-103页 |
| ·引言 | 第87-88页 |
| ·几何矩在光斑图像测量中的应用 | 第88-92页 |
| ·二值图像几何矩快速算法 | 第88-90页 |
| ·特征衍射线围成区域面积计算 | 第90-92页 |
| ·激光头-CCD 相机准直技术 | 第92-96页 |
| ·激光头-CCD 相机准直原理 | 第92-94页 |
| ·激光头-CCD 相机准直 | 第94-96页 |
| ·激光头盘准直系统 | 第96-102页 |
| ·激光头盘准直技术 | 第96-98页 |
| ·激光头盘准直实现流程 | 第98-100页 |
| ·系统误差分析 | 第100-102页 |
| ·本章小结 | 第102-103页 |
| 6 结论与展望 | 第103-107页 |
| ·全文总结 | 第103-105页 |
| ·存在的问题与展望 | 第105-107页 |
| 致谢 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-116页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表论文目录 | 第116-118页 |
| 附录2 PCA 原理及特征 | 第118-120页 |
| 附录3 混合算法下宽带多光谱空间的重建 | 第120-124页 |
