| 中文摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 前言 | 第8-9页 |
| 第一章 加速寿命试验与贮存可靠性综述 | 第9-15页 |
| §1.1 国内外文献回顾 | 第9-10页 |
| §1.2 加速贮存试验技术的研究背景 | 第10-11页 |
| §1.3 加速寿命试验的理论基础 | 第11-14页 |
| ·加速寿命试验的定义及分类 | 第11-12页 |
| ·加速寿命试验的加速模型 | 第12-13页 |
| ·加速系数的数学模型 | 第13-14页 |
| §1.4 贮存可靠性的理论基础 | 第14-15页 |
| ·贮存可靠性概念 | 第14页 |
| ·贮存寿命及可靠贮存寿命的概念 | 第14-15页 |
| 第二章 电子产品的具有初始失效的加速贮存可靠性模型 | 第15-18页 |
| §2.1 具有初始失效的加速贮存可靠性模型 | 第15-16页 |
| ·何为初始失效 | 第15页 |
| ·加速贮存可靠性模型 | 第15-16页 |
| §2.2 加速贮存可靠性试验 | 第16-18页 |
| ·加速贮存试验的定义 | 第16页 |
| ·进行加速贮存可靠性研究的意义 | 第16页 |
| ·加速贮存条件喜爱的环境因素及其影响 | 第16-18页 |
| 第三章 TTT-plot在加速贮存试验中的应用 | 第18-26页 |
| §3.1 寿命分布的TTT-plot方法介绍 | 第18-19页 |
| ·加速贮存数据是完整数据的情况 | 第18页 |
| ·加速贮存数据是截尾数据的情况 | 第18-19页 |
| §3.2 数值例子 | 第19-26页 |
| ·加速贮存数据是完整数据的情况 | 第19-22页 |
| ·加速贮存数据是截尾数据的情况 | 第22-26页 |
| 第四章 具有初始失效的电子产品的加速贮存可靠性预测模型 | 第26-33页 |
| §4.1 预测模型 | 第26-28页 |
| ·预测模型1 | 第26页 |
| ·预测模型2 | 第26页 |
| ·预测模型3 | 第26页 |
| ·预测模型4 | 第26-27页 |
| ·预测模型5 | 第27页 |
| ·预测模型6 | 第27-28页 |
| §4.2 预测模型的参数估计 | 第28-33页 |
| ·模型1中b_1,b_2的估计 | 第28页 |
| ·模型2中b_0,b_1,b_2的估计 | 第28-29页 |
| ·模型3中a,b,c的估计 | 第29-30页 |
| ·模型4中β,λ_0的估计 | 第30-31页 |
| ·模型5中λ,α的估计 | 第31页 |
| ·模型6中λ,δ的估计 | 第31-33页 |
| 第五章 含有隐藏失效数据的加速贮存可靠性方法研究 | 第33-37页 |
| §5.1 EM算法介绍 | 第33-34页 |
| §5.2 如何用EM算法分析隐藏的失效数据 | 第34页 |
| §5.3 EM算法在Ⅱ-型截尾试验中的应用 | 第34-37页 |
| 第六章 与任务时间相结合的加速贮存可靠性模型及其统计分析 | 第37-42页 |
| §6.1 先加速贮存后加速使用的可靠性模型 | 第37-38页 |
| §6.2 先加速使用后加速贮存的可靠性模型 | 第38-42页 |
| 第七章 加速贮存可靠性与正常贮存可靠性的关系 | 第42-50页 |
| §7.1 基本假设 | 第42-43页 |
| §7.2 以温度为加速应力的统计分析 | 第43-45页 |
| §7.3 以湿度为加速应力的统计分析 | 第45-46页 |
| §7.4 以温、湿(T-H)双应力为加速应力的统计分析 | 第46-49页 |
| §7.5 可靠贮存寿命预测 | 第49-50页 |
| 第八章 提高电子产品贮存可靠性的技术途径 | 第50-52页 |
| 1 选用贮存性能好的材料和元器件 | 第50页 |
| 2 结构密封设计与表面防护 | 第50页 |
| 3 贮存要求 | 第50页 |
| 4 实行定期检测维修 | 第50-51页 |
| 5 采用先进的无损检测手段 | 第51-52页 |
| 第九章 论文小结 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 附录 | 第58-59页 |
