| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-29页 |
| ·微晶玻璃 | 第14-17页 |
| ·引言 | 第14-15页 |
| ·微晶玻璃在建材领域的应用现状 | 第15-16页 |
| ·CaO-Al_2O_3-SiO_2系微晶玻璃 | 第16-17页 |
| ·微晶玻璃残余应力 | 第17-18页 |
| ·残余应力概念的界定 | 第17-18页 |
| ·残余应力的测定方法 | 第18-26页 |
| ·钻孔法 | 第19-22页 |
| ·声弹性法 | 第22-24页 |
| ·电阻应变片法 | 第24页 |
| ·X射线法 | 第24-25页 |
| ·中子衍射法 | 第25-26页 |
| ·课题研究的意义及内容 | 第26-29页 |
| ·研究工作的意义 | 第26-27页 |
| ·主要研究目标、内容、关键问题 | 第27-29页 |
| 第2章 X射线、中子衍射法残余应力测定原理和方法 | 第29-43页 |
| ·X射线残余应力测定原理和方法 | 第29-37页 |
| ·测定原理 | 第29-31页 |
| ·测定方法 | 第31-34页 |
| ·定峰方法 | 第34-36页 |
| ·最小二乘法简介 | 第36-37页 |
| ·中子衍射残余应力测定原理 | 第37-43页 |
| ·测定原理 | 第38-39页 |
| ·测定方法 | 第39-43页 |
| 第3章 CaO-AL_2O_3-SIO_2系微晶玻璃制备及性能测试 | 第43-50页 |
| ·CaO-AL_2O_3-SIO_2系微晶玻璃的制备 | 第43-47页 |
| ·玻璃成分 | 第43-44页 |
| ·实验设备 | 第44页 |
| ·实验原料 | 第44-45页 |
| ·实验流程 | 第45页 |
| ·样品的制备 | 第45-47页 |
| ·CaO-AL_2O_3-SIO_2系微晶玻璃的物相和形貌分析 | 第47-50页 |
| ·X射线衍射分析 | 第47-48页 |
| ·扫描电子显微镜分析 | 第48页 |
| ·热膨胀系数的测定 | 第48-49页 |
| ·微晶玻璃抗折强度测定 | 第49-50页 |
| 第4章 冷却速率对微晶玻璃残余应力的影响 | 第50-78页 |
| ·前言 | 第50页 |
| ·冷却速率对微晶玻璃结构的影响 | 第50-54页 |
| ·冷却速率对微晶玻璃晶相的影响 | 第50-51页 |
| ·冷却速率对微观结构的影响 | 第51-54页 |
| ·冷却速率对微晶玻璃部分性能的影响 | 第54-57页 |
| ·热膨胀系数的测定 | 第54-56页 |
| ·抗折强度的测定(抗折强度，弹性模量) | 第56-57页 |
| ·X射线法残余应力的测定 | 第57-69页 |
| ·D/MAX-ⅢA型X衍射仪残余应力测定及数据处理 | 第57-66页 |
| ·D/MAX-ⅢC型X衍射仪残余应力测定及数据处理 | 第66-69页 |
| ·中子衍射法微晶玻璃应力测定及结果分析 | 第69-77页 |
| ·微晶玻璃试样制备 | 第69-70页 |
| ·中子衍射应力测试条件 | 第70-71页 |
| ·中子衍射应力测试结果 | 第71-77页 |
| 本章小结 | 第77-78页 |
| 第5章 CAO/AL_2O_3对微晶玻璃结构性能及残余应力的影响 | 第78-95页 |
| ·CAO对微晶玻璃结构性能及残余应力的影响 | 第78-86页 |
| ·前言 | 第78页 |
| ·CaO含量对微晶玻璃晶相的影响 | 第78-80页 |
| ·CaO含量对微晶玻璃微观结构的影响 | 第80-81页 |
| ·残余应力测试结果分析 | 第81-85页 |
| ·CaO对微晶玻璃力学性能的影响 | 第85-86页 |
| ·AL_2O_3对微晶玻璃结构性能及残余应力的影响 | 第86-94页 |
| ·前言 | 第86页 |
| ·Al_2O_3含量对微晶玻璃晶相的影响 | 第86-88页 |
| ·Al_2O_3含量对微晶玻璃微观结构的影响 | 第88-90页 |
| ·残余应力测试结果分析 | 第90-92页 |
| ·Al_2O_3对微晶玻璃力学性能的影响 | 第92-94页 |
| 本章小结 | 第94-95页 |
| 第6章 微晶玻璃厚度、玻璃颗粒大小对残余应力的影响 | 第95-106页 |
| ·微晶玻璃厚度对残余应力的影响 | 第95-99页 |
| ·引言 | 第95-96页 |
| ·微晶玻璃制备 | 第96页 |
| ·残余应力测试 | 第96-97页 |
| ·测试结果及讨论 | 第97-99页 |
| ·玻璃颗粒大小对残余应力的影响 | 第99-105页 |
| ·引言 | 第99页 |
| ·微晶玻璃制备 | 第99-100页 |
| ·残余应力测试 | 第100页 |
| ·测试结果及讨论 | 第100-105页 |
| 本章小结 | 第105-106页 |
| 第7章 微晶玻璃残余应力测量的误差分析 | 第106-114页 |
| ·X射线应力测量的误差分析 | 第106-109页 |
| ·用最小二乘法求“2θ-sin~2Ψ”直线的斜率 | 第106-107页 |
| ·试样状态对应力测定的影响 | 第107页 |
| ·应力测量与数据处理 | 第107-109页 |
| ·计算精度与误差分析 | 第109页 |
| ·中子衍射应力测量的误差分析 | 第109-113页 |
| ·实验误差 | 第109-111页 |
| ·计算误差 | 第111-113页 |
| 本章小结 | 第113-114页 |
| 第8章 结论 | 第114-116页 |
| 参考文献 | 第116-122页 |
| 致谢 | 第122-123页 |
| 附录 | 第123-128页 |
| 博士论文期间已经发表的论文及专利 | 第123页 |
| 专利 | 第123-124页 |
| 程序说明 | 第124-128页 |
