摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-13页 |
第一章 绪论 | 第13-25页 |
·图像处理的概念及主要数学方法 | 第13-15页 |
·图像处理的概念 | 第13-14页 |
·图像处理中的数学方法 | 第14-15页 |
·偏微分方程图像处理理论的发展历史及模型分类 | 第15-19页 |
·偏微分方程图像处理的发展历史 | 第15-17页 |
·偏微分方程图像处理的主要模型及分类 | 第17-19页 |
·偏微分方程图像处理的优点及其面临的挑战 | 第19页 |
·小波理论在图像处理中的应用 | 第19-22页 |
·本文主要工作及章节安排 | 第22-25页 |
第二章 尺度空间理论与小波分析理论 | 第25-37页 |
·尺度空间理论 | 第25-29页 |
·尺度空间的定义 | 第25-26页 |
·尺度空间的公理和不变性 | 第26-29页 |
·小波分析理论 | 第29-37页 |
·多分辨分析框架 | 第29-31页 |
·小波变换 | 第31-33页 |
·小波变换的快速算法 | 第33-37页 |
第三章 基于形态学的自适应各向异性扩散方程 | 第37-49页 |
·基于扩散方程的图像处理模型介绍 | 第37-40页 |
·各向同性的热扩散方程 | 第37-38页 |
·Perona-Malik各向异性扩散方程 | 第38-39页 |
·Alvarez,Lions和Morel模型 | 第39页 |
·F.Catte模型 | 第39-40页 |
·基于形态学的自适应各向异性扩散方程 | 第40-47页 |
·数学形态学算子 | 第40-41页 |
·新的基于形态学的阈值函数 | 第41-42页 |
·基于形态学的自适应各向异性扩散方程 | 第42-45页 |
·仿真实验及分析 | 第45-47页 |
·本章小结 | 第47-49页 |
第四章 张量扩散方程 | 第49-69页 |
·张量扩散方程及其经典模型 | 第49-51页 |
·基于噪声—纹理检测算子的图像二次滤波模型 | 第51-57页 |
·经典能量泛函极小化的图像修复模型 | 第51-53页 |
·噪声—纹理检测算子的提出 | 第53-54页 |
·基于噪声—纹理检测算子的图像二次滤波模型 | 第54-55页 |
·仿真实验及分析 | 第55-57页 |
·自适应张量扩散方程滤波模型 | 第57-67页 |
·基于非线性小波阈值边缘定向算子的提出 | 第57-58页 |
·扩散张量特征值的重新设定 | 第58-59页 |
·新的带忠诚项的张量扩散方程模型 | 第59-60页 |
·自适应张量扩散方程滤波模型 | 第60-64页 |
·仿真实验及分析 | 第64-67页 |
·本章小结 | 第67-69页 |
第五章 方向扩散方程 | 第69-81页 |
·方向扩散方程及其性质 | 第69-71页 |
·方向扩散方程与小波变换的相关性研究 | 第71-75页 |
·方向扩散方程与小波分解 | 第71-74页 |
·方向扩散方程与小波重构 | 第74-75页 |
·方向扩散方程与小波变换的差异 | 第75页 |
·改进的方向扩散方程滤波模型 | 第75-79页 |
·改进的方向扩散方程滤波模型 | 第75-77页 |
·仿真实验及分析 | 第77-79页 |
·本章小结 | 第79-81页 |
第六章 基于偏微分方程与变分的图像修补模型 | 第81-100页 |
·偏微分方程与变分图像修补方法的发展历史 | 第81-85页 |
·新的基于泰勒展开的3阶偏微分方程去噪修补模型 | 第85-91页 |
·基于泰勒展开的3阶偏微分方程修补模型 | 第85-87页 |
·基于泰勒展开的3阶偏微分方程去噪修补模型 | 第87-89页 |
·仿真实验及分析 | 第89-91页 |
·新的基于曲率驱动的小波域图像修补模型 | 第91-98页 |
·小波域全变差修补模型介绍 | 第91-93页 |
·新的基于曲率驱动的小波域图像修补模型 | 第93-96页 |
·离散格式 | 第96-97页 |
·仿真实验及分析 | 第97-98页 |
·本章小结 | 第98-100页 |
第七章 基于小波的IC缺陷图像轮廓分形特征研究 | 第100-113页 |
·IC缺陷轮廓的研究意义和现状 | 第100-102页 |
·现有IC缺陷轮廓模型 | 第102-105页 |
·最大圆、最小圆及椭圆模型 | 第102-103页 |
·等效圆形缺陷模型 | 第103-105页 |
·IC缺陷轮廓的分形特征 | 第105-109页 |
·分形理论基础 | 第105-107页 |
·IC缺陷轮廓的分形特征 | 第107-109页 |
·IC缺陷轮廓的多分形特征 | 第109-112页 |
·多分形与分形热力学公式 | 第109页 |
·基于小波变换模极大(WTMM)的多分形谱计算方法 | 第109-111页 |
·WTMM方法在IC缺陷轮廓多分形特征提取中的应用 | 第111-112页 |
·本章小结 | 第112-113页 |
第八章 总结与展望 | 第113-116页 |
致谢 | 第116-117页 |
参考文献 | 第117-129页 |
攻读博士学位期间发表(录用)论文和科研情况 | 第129-130页 |