精密时频测量和控制技术研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
第一章 绪论 | 第11-23页 |
·引言 | 第11-12页 |
·时间和频率的测量和比对技术的研究现状 | 第12-17页 |
·直接计数法 | 第13页 |
·时间间隔扩展法 | 第13-14页 |
·模拟内插法和时间—幅度转换法 | 第14页 |
·游标法和抽头延迟线法 | 第14-15页 |
·示波器法 | 第15页 |
·频差倍增法 | 第15-16页 |
·差拍法 | 第16页 |
·时差法 | 第16页 |
·比相法 | 第16-17页 |
·本文的研究内容及主要工作 | 第17-18页 |
·本文的结构安排 | 第18-20页 |
参考文献 | 第20-23页 |
第二章 基于相位检测的频率测量和频标比对研究 | 第23-47页 |
·引言 | 第23-24页 |
·相位检测原理 | 第24-28页 |
·最大公因子频率 | 第24-27页 |
·相位重合点和相位检测 | 第27-28页 |
·基于相位检测的频率测量方法 | 第28-35页 |
·相位检测法测量频率的误差分析 | 第28-31页 |
·基于FPGA的设计实现 | 第31-32页 |
·实际测试结果 | 第32-34页 |
·进一步的改进 | 第34-35页 |
·结论 | 第35页 |
·基于相位检测的频标比对方法 | 第35-43页 |
·双混频时差法 | 第36-37页 |
·相位检测的比对原理 | 第37-38页 |
·高精度频标比对器 | 第38-40页 |
·实际测试结果 | 第40-43页 |
·结论 | 第43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
参考文献 | 第44-47页 |
第三章 基于延迟链的时间和频率测量方法 | 第47-65页 |
·引言 | 第47页 |
·基于延迟链技术的短时间间隔测量方法 | 第47-54页 |
·直接计数法的短时间间隔测量原理 | 第48-49页 |
·基于延迟链技术的短时间间隔测量方法 | 第49-51页 |
·误差分析 | 第51-52页 |
·设计实现 | 第52-54页 |
·实际测试结果 | 第54页 |
·结论 | 第54页 |
·基于延迟链的频率测量方法 | 第54-61页 |
·多周期同步法的频率测量原理 | 第55-56页 |
·基于延迟链的频率测量方法 | 第56-57页 |
·误差分析 | 第57-60页 |
·设计实现 | 第60页 |
·验证及结果分析 | 第60-61页 |
·结论 | 第61页 |
·本章小结 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
第四章 基于长度游标法的短时间间隔测量 | 第65-81页 |
·引言 | 第65页 |
·游标法和时间数字变换器的原理 | 第65-69页 |
·传统游标法测量短时间间隔原理 | 第66-68页 |
·时间数字变换器(TDC)测量短时间间隔原理 | 第68-69页 |
·基于长度游标法的时间间隔测量 | 第69-77页 |
·信号在介质中传播速度的高稳定性的证明实验 | 第70-71页 |
·长度游标法测量时间间隔原理 | 第71-74页 |
·基于长度游标法的短时间间隔测量仪器的原型设计 | 第74-75页 |
·实验验证与性能分析 | 第75-76页 |
·下一步的改进措施 | 第76-77页 |
·本章小结 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
第五章 模拟方式的频率控制方法研究 | 第81-103页 |
·引言 | 第81页 |
·温度补偿晶体振荡器 | 第81-84页 |
·模拟温度补偿晶体振荡器(TCXO) | 第82-83页 |
·数字温度补偿晶体振荡器(DTCXO) | 第83-84页 |
·微机补偿晶体振荡器(MCXO) | 第84页 |
·基于应力补偿的温补 | 第84-93页 |
·影响石英晶体应力—频率效应的主要参数 | 第84-85页 |
·验证石英晶体应力—频率效应的实验 | 第85-87页 |
·基于应力补偿温补晶振的设计原理 | 第87-89页 |
·实验结果 | 第89-92页 |
·小结 | 第92-93页 |
·基于模拟存储的温补晶振 | 第93-98页 |
·AMCXO的设计原理 | 第93-95页 |
·AMCXO的频率—温度特性 | 第95-96页 |
·AMCXO的测试系统 | 第96-97页 |
·小结 | 第97-98页 |
·本章小结 | 第98-99页 |
参考文献 | 第99-103页 |
结束语 | 第103-105页 |
1. 论文总结 | 第103-104页 |
2. 工作展望 | 第104-105页 |
攻读博士学位期间完成的论文 | 第105-107页 |
致谢 | 第107页 |