| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 1 前言 | 第8-14页 |
| ·高压氧(HBO)治疗脑缺血的研究现状 | 第8-9页 |
| ·脑缺血后细胞死亡的研究 | 第9-13页 |
| ·坏死(necrosis)和凋亡(apoptosis)的研究 | 第9-11页 |
| ·脑缺血核心区和半暗区细胞死亡的研究 | 第11-13页 |
| ·研究目标 | 第13-14页 |
| 2 材料与方法 | 第14-22页 |
| ·局灶性脑缺血模型的建立及高压氧治疗 | 第14页 |
| ·神经功能评分和梗死体积测定 | 第14-15页 |
| ·脑缺血核心区和半暗区细胞凋亡和坏死的检测 | 第15-17页 |
| ·~(18)FDG的micro-PET鼠脑功能成像检测局部葡萄糖代谢 | 第17-18页 |
| ·脑缺血核心区和半暗区的线粒体功能测定 | 第18-20页 |
| ·脑缺血核心区和半暗区的氧自由基及抗氧化物测定 | 第20-21页 |
| ·统计分析 | 第21-22页 |
| 3 结果 | 第22-43页 |
| ·高压氧治疗局灶脑缺血的神经保护作用 | 第22-25页 |
| ·高压氧治疗后脑缺血核心区和半暗区细胞凋亡和坏死的研究 | 第25-34页 |
| ·高压氧治疗脑缺血后~(18)FDG的micro-PET鼠脑功能成像 | 第34-37页 |
| ·高压氧治疗脑缺血后核心区和半暗区线粒体功能的研究 | 第37-40页 |
| ·高压氧治疗脑缺血后核心区和半暗区氧自由基和抗氧化酶活性 | 第40-43页 |
| 4 讨论 | 第43-52页 |
| ·高压氧治疗局灶脑缺血的神经保护作用 | 第43-44页 |
| ·高压氧治疗后局灶脑缺血半暗区和核心区细胞凋亡的变化 | 第44-48页 |
| ·高压氧治疗增加脑缺血核心区的葡萄糖利用 | 第48-49页 |
| ·高压氧治疗增加脑缺血半暗区和核心区线粒体合成APT功能 | 第49-50页 |
| ·高压氧治疗对脑缺血后半暗区和核心区氧自由基和抗氧化酶 活性的影响 | 第50-52页 |
| 5 结论 | 第52-54页 |
| ·高压氧治疗脑缺血具有时间窗,在脑缺血后早期应用HBO治疗具有神经保护用。 | 第52页 |
| ·高压氧治疗提高脑缺血核心区的凋亡/坏死细胞比例,抑制了半暗区细胞死亡。 | 第52页 |
| ·高压氧治疗增加脑缺血核心区的葡萄糖利用,增强线粒体合成ATP功能,并提高ATP水平。 | 第52-54页 |
| 6 参考文献 | 第54-58页 |
| 7 综述 | 第58-65页 |
| 8 致谢 | 第65页 |
