基于SoC的实时成像处理器中DDR存储系统研究
摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-10页 |
第一章 引言 | 第10-20页 |
·SAR 成像算法和成像系统 | 第11-13页 |
·SAR 成像算法 | 第11-12页 |
·SAR 成像处理器 | 第12-13页 |
·SOC 技术以及SOC 互连总线标准 | 第13-16页 |
·SoC 技术 | 第13-14页 |
·SoC 互连总线标准 | 第14-16页 |
·本文的贡献 | 第16-18页 |
·论文的组织 | 第18-20页 |
第二章 基于SOC的星载实时成像处理器的系统结构 | 第20-30页 |
·实时成像处理器的系统结构设计 | 第21-25页 |
·实时成像处理器设计的基本策略 | 第21-24页 |
·实时成像处理器的处理流程与结构 | 第24-25页 |
·因子计算IP | 第25-28页 |
·FFT 阵列逻辑 | 第28页 |
·小结 | 第28-30页 |
第三章 存储系统体系结构设计 | 第30-38页 |
·DDR-SDRAM 存储系统访存分析 | 第30-32页 |
·新的存储系统设计方案 | 第32-34页 |
·地址空间变换和数据重组 | 第34-36页 |
·行模式下的地址变化和数据重组 | 第34-35页 |
·行模式下的地址变化和数据重组 | 第35-36页 |
·存储颗粒阵列排列 | 第36-37页 |
·小结 | 第37-38页 |
第四章 高速存储系统控制IP的设计 | 第38-46页 |
·存储系统的目标访存效率分析 | 第39页 |
·CS 成像流程的访存特点 | 第39-41页 |
·提高访存效率的策略 | 第41-43页 |
·数据的写入缓冲策略 | 第41-42页 |
·合适的存储颗粒控制模式 | 第42-43页 |
·提高存储控制器可复用性的策略 | 第43-44页 |
·小结 | 第44-46页 |
第五章 存储系统的容错和纠错设计 | 第46-58页 |
·存储系统容错方案系统结构 | 第46-49页 |
·容错存储系统工作流程 | 第46-48页 |
·容错存储系统的硬件支持 | 第48-49页 |
·冗余存储颗粒 | 第49-51页 |
·逻辑设计对容错的支持 | 第51-56页 |
·容错系统的相关寄存器 | 第51-53页 |
·纠错码生成及解码 | 第53-54页 |
·数据重组和地址重新生成 | 第54-56页 |
·系统纠错容错能力分析 | 第56页 |
·小结 | 第56-58页 |
第六章 存储系统的验证以及性能评测 | 第58-66页 |
·存储系统的验证 | 第58-62页 |
·验证的意义和分类 | 第58-59页 |
·黑盒测试和白盒测试 | 第59-60页 |
·存储系统的验证 | 第60-62页 |
·分析与比较 | 第62-65页 |
·通用系统访存效率分析 | 第62-63页 |
·新的存储系统行列模式下的平均访存效率分析 | 第63-65页 |
·存储系统的硬件代价 | 第65页 |
·小结 | 第65-66页 |
第七章 结束语 | 第66-70页 |
·本文工作总结 | 第66-67页 |
·下一步的研究工作 | 第67-70页 |
参考文献 | 第70-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
作者简历 | 第75页 |