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亚波长圆偏振二色性器件的理论设计与实验研究

中文摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第一章 绪论第12-44页
    1.1 课题研究背景第12-15页
    1.2 基于超材料(Metamaterials)的手性结构与圆偏振二色性第15-17页
        1.2.1 超材料第15页
        1.2.2 手性结构(Chirality)与圆偏振二色性第15-17页
    1.3 圆偏振二色性器件的国内外研究现状第17-35页
        1.3.1 亚波长三维金属结构的圆偏振二色性研究现状第17-23页
        1.3.2 亚波长二维金属结构的圆偏振二色性研究现状第23-28页
        1.3.3 全介质手性结构的圆偏振二色性研究现状第28-32页
        1.3.4 全斯托克斯像素式偏振器件研究现状第32-35页
    1.4 课题的意义和主要研究内容第35-37页
    参考文献第37-44页
第二章 圆偏振二色性器件的相关理论与制备技术第44-59页
    2.1 引言第44页
    2.2 圆偏振二色性器件的基础理论第44-50页
        2.2.1 光波偏振态的描述:Jones矢量和Stokes参数第44-46页
        2.2.2 手性材料的圆偏振二色性第46-50页
    2.3 时域有限差分(FDTD)数值计算方法第50-52页
    2.4 三维激光直写系统制备技术第52-54页
    2.5 电子束曝光直写系统制备技术第54-56页
    2.6 本章小结第56-57页
    参考文献第57-59页
第三章 亚波长螺旋面型圆偏振器件的理论设计与制备第59-91页
    3.1 引言第59-60页
    3.2 单圈亚波长螺旋面圆偏振二色性器件的理论设计第60-68页
        3.2.1 单圈亚波长螺旋面结构单元的设计第60-61页
        3.2.2 单圈亚波长螺旋面结构的圆偏振二色性及结构参数优化第61-68页
    3.3 亚波长螺旋面圆偏振二色性机理的讨论第68-71页
    3.4 数值模拟中螺旋面结构基底材料影响的讨论第71-73页
    3.5 实验制备过程中全金属覆盖螺旋面结构的设计第73-75页
    3.6 多圈亚波长螺旋面圆偏振器件的理论设计第75-82页
        3.6.1 多圈亚波长螺旋面结构单元的设计第75-76页
        3.6.2 多圈亚波长螺旋面结构的圆偏振二色性及结构参数优化第76-82页
    3.7 单圈亚波长螺旋面器件的实验制备第82-86页
    3.8 单圈亚波长螺旋面器件的实验检测第86-88页
        3.8.1 实验检测光路第86-88页
        3.8.2 实验检测结果与分析第88页
    3.9 本章小结第88-89页
    参考文献第89-91页
第四章 全介质二维亚波长圆偏振二色性器件的理论设计与制备第91-119页
    4.1 引言第91-92页
    4.2 全介质二维亚波长圆偏振二色性器件的理论设计第92-99页
        4.2.1 全介质二维亚波长―Z‖型结构单元的设计第92-93页
        4.2.2 全介质二维亚波长―Z‖型结构圆偏振二色性及参数优化第93-99页
    4.3 全介质二维亚波长―Z‖型结构圆偏振二色性机理的讨论第99-101页
    4.4 全介质二维亚波长―Z‖型结构特殊光学性能的研究第101-106页
        4.4.1 器件对不同圆偏振光入射的透射和反射光的偏振态的影响第101-103页
        4.4.2 器件对不同方位角线偏振光入射的透射和反射光的偏振态的影响第103-104页
        4.4.3 实验制备参数下全介质亚波长―Z‖型结构的光学性能的研究第104-106页
    4.5 数值模拟全介质―Z‖结构材料和实验参数影响的讨论第106-108页
    4.6 全介质二维亚波长―Z‖型圆偏振二色性器件的实验制备第108-113页
    4.7 全介质二维亚波长―Z‖型结构圆偏振二色性器件的实验检测第113-117页
        4.7.1 实验检测光路第113-114页
        4.7.2 实验检测结果与分析第114-117页
    4.8 本章小结第117页
    参考文献第117-119页
第五章 全斯托克斯像素式偏振器件的理论设计与制备第119-136页
    5.1 引言第119-120页
    5.2 全介质线偏振器件的理论设计与参数优化第120-123页
        5.2.1 全介质线偏振器件的理论设计第120-121页
        5.2.2 全介质线偏振器件的参数优化第121-123页
    5.3 全介质光栅偏振效应的机理讨论第123-126页
    5.4 基于绝缘硅片(SOI)的全斯托克斯偏振器件的理论设计第126-128页
        5.4.1 基于绝缘硅片的光栅线偏振器件理论设计第126-127页
        5.4.2 基于绝缘硅片的―Z‖型圆偏振二色性器件理论设计第127-128页
    5.5 数值模拟基于绝缘硅片的光栅线偏振器件实验参数影响第128-129页
    5.6 全介质超表面像素式全斯托克斯矢量偏振片的结构设计第129-130页
    5.7 全斯托克斯像素式偏振器件的实验制备第130-132页
    5.8 全斯托克斯像素式偏振器件的实验检测与分析第132-134页
    5.9 本章小结第134页
    参考文献第134-136页
第六章 总结与展望第136-139页
    6.1 总结第136-138页
    6.2 展望第138-139页
攻读学位期间公开发表的论文第139-144页
致谢第144-145页

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