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微机械法布里-泊罗干涉型光学读出非致冷热成像技术研究

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-9页
第1章 引言第9-41页
   ·MEMS技术第9-14页
     ·MEMS技术发展概况第9-10页
     ·主要的MEMS加工技术第10-13页
     ·基于MEMS技术的主要产品及其成功经验第13-14页
   ·红外技术第14-22页
     ·红外技术基础第14-17页
     ·量子型红外探测器第17-20页
     ·热型红外探测器第20页
     ·红外探测器的应用第20-21页
     ·红外探测器技术的发展趋势第21-22页
   ·基于MEMS技术的非致冷红外焦平面阵列技术的发展第22-32页
     ·采用电学读出方式的非致冷红外探测器第22-28页
     ·采用光学读出方式的非致冷红外探测器第28-32页
   ·本论文工作的意义、目的、研究内容和创新点第32-35页
     ·本论文工作的意义和目的第32页
     ·本论文的研究内容第32-33页
     ·本论文的创新点第33-35页
 参考文献第35-41页
第2章 法布里-泊罗干涉型光学读出热成像系统设计第41-68页
   ·法布里-泊罗干涉型光学读出热成像系统工作原理第41-45页
     ·光的干涉与法布里-泊罗干涉仪第41-43页
     ·法布里-泊罗干涉型光学读出热成像系统及其工作原理第43-44页
     ·法布里-泊罗干涉型光学读出热成像系统的特点第44-45页
   ·法布里-泊罗微腔红外探测器阵列设计第45-63页
     ·红外敏感与双材料梁材料的选择第45-46页
     ·光学设计第46-51页
     ·可动微镜的结构与填充因子第51-53页
     ·可动微镜的热-机械灵敏度优化设计第53-63页
   ·光学读出及图像处理部分设计第63-65页
     ·光学读出系统设计第63-64页
     ·图像处理系统第64-65页
   ·本章小结第65-67页
 参考文献第67-68页
第3章 法布里-泊罗干涉型光学读出热成像系统性能分析第68-87页
   ·法布里-泊罗微腔红外探测器阵列性能分析第68-77页
     ·法布里-泊罗微腔红外探测器阵列的机械-光灵敏度第68-69页
     ·可动微镜的机械特性第69-73页
     ·可动微镜的热导与红外温度响应第73-76页
     ·可动微镜的时间常数第76-77页
   ·法布里-泊罗干涉型光学读出热成像系统红外性能分析第77-84页
     ·系统可探测温度差第77-78页
     ·光学读出热成像系统噪声等效温差分析第78-84页
   ·本章小结第84-86页
 参考文献第86-87页
第4章 关键工艺及器件研制第87-109页
   ·关键工艺研究第87-100页
     ·KOH溶液湿法腐蚀硅第87-88页
     ·RIE刻蚀第88-90页
     ·IBE刻蚀第90-97页
     ·硅-玻璃键合第97-99页
     ·硅的DRIE刻蚀第99-100页
   ·法布里-泊罗微腔红外探测器阵列制作工艺流程第100-103页
   ·工艺偏差对可动微镜性能的影响第103-107页
   ·本章小结第107-108页
 参考文献第108-109页
第5章 测试结果及讨论第109-129页
   ·氮化硅和氧化硅薄膜的红外吸收特性第109-111页
   ·表面粗糙度测量第111-116页
     ·硅-玻璃键合前微镜表面的粗糙度第111-114页
     ·硅-玻璃键合对表面粗糙度的影响第114-115页
     ·可动微镜释放后的表面粗糙度第115-116页
   ·薄膜的残余应力第116-124页
     ·台阶仪测量薄膜残余应力的原理第116页
     ·薄膜的残余应力测量第116-120页
     ·薄膜残余应力对可动微镜形貌的影响第120-124页
   ·法布里-泊罗微腔红外探测器阵列热-机械灵敏度实验测试第124-126页
   ·本章小结第126-128页
 参考文献第128-129页
第6章 结论及未来的工作第129-132页
攻博期间发表的论文与成果清单第132-133页
致谢第133-134页
个人简历第134-135页

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