| 第一章 前言 | 第1-17页 |
| ·膜分离技术概述 | 第9页 |
| ·多孔膜过滤基本原理 | 第9页 |
| ·多孔膜污染及其防治的研究现状 | 第9-15页 |
| ·分离膜材料特性与膜污染 | 第9-10页 |
| ·分离体系构成与膜污染 | 第10-11页 |
| ·膜污染机理及模型 | 第11-13页 |
| ·减少或防止膜污染的方法 | 第13-15页 |
| ·本课题的目的和意义 | 第15页 |
| ·本实验主要内容 | 第15-16页 |
| ·本课题创新点 | 第16-17页 |
| 第二章 理论基础 | 第17-23页 |
| ·多孔膜的传递与分离机理 | 第17页 |
| ·膜性能的评价标准 | 第17-18页 |
| ·无机盐结垢原理 | 第18-19页 |
| ·硫酸钙垢在过饱和溶液中的形成 | 第19-20页 |
| ·溶液中的离子 | 第20-21页 |
| ·配合物理论 | 第21页 |
| ·配合物生成动力学和机制 | 第21-22页 |
| ·膜清洗剂应具备的特征 | 第22-23页 |
| 第三章 实验 | 第23-27页 |
| ·实验仪器 | 第23-24页 |
| ·常用实验仪器 | 第23页 |
| ·试剂 | 第23页 |
| ·实验原料 | 第23-24页 |
| ·膜的性能评价 | 第24页 |
| ·不同温度下膜通量的测定 | 第24页 |
| ·不同压力下膜通量的测定 | 第24页 |
| ·不同试剂对硫酸钙的溶解 | 第24页 |
| ·硫酸钙的溶解实验方法 | 第24页 |
| ·溶解率的计算 | 第24页 |
| ·溶解过程中pH的变化 | 第24-25页 |
| ·pH对溶解过程的影响 | 第25页 |
| ·含盐量对溶解过程的影响 | 第25页 |
| ·硫酸钙在膜表面的沉积污染 | 第25页 |
| ·多孔污染膜的清洗方法 | 第25-26页 |
| ·通量相对恢复率和绝对恢复率的计算 | 第26页 |
| ·SEM和XPS测试 | 第26-27页 |
| 第四章 清洗剂对硫酸钙的溶解性研究 | 第27-58页 |
| ·膜的清洗依据 | 第27页 |
| ·温度对膜通量的影响 | 第27-28页 |
| ·压力对膜通量的影响 | 第28页 |
| ·清洗试剂的选择 | 第28-33页 |
| ·按配位原子分类的常见配体 | 第29-31页 |
| ·螯合配位个体的特殊稳定性 | 第31-32页 |
| ·影响螯合配体个体稳定性的因素 | 第32-33页 |
| ·各种试剂对硫酸钙的螯合原理 | 第33-35页 |
| ·各种试剂对硫酸钙的溶解性 | 第35-36页 |
| ·不同摩尔比下，Na_2EDTA和Na_4EDTA对硫酸钙的溶解 | 第36-39页 |
| ·动力学方程的拟合 | 第39-41页 |
| ·Na_4EDTA的动力学方程拟合 | 第39-40页 |
| ·Na_2EDTA的动力学方程拟合 | 第40-41页 |
| ·温度对硫酸钙溶解的影响 | 第41-42页 |
| ·在溶解过程中pH值的变化 | 第42-44页 |
| ·pH对溶解过程的影响 | 第44-46页 |
| ·含盐量对溶解过程的影响 | 第46-47页 |
| ·乙二胺四乙酸四钠溶解硫酸钙的正交试验 | 第47-52页 |
| ·乙二胺四乙酸二钠溶解硫酸钙的正交试验 | 第52-55页 |
| ·两个正交实验的对比 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 污染膜的清洗实验研究 | 第58-66页 |
| ·乙二胺四乙酸四钠对膜清洗的正交实验 | 第58-60页 |
| ·乙二胺四乙酸二钠对膜清洗的正交实验 | 第60-63页 |
| ·电镜分析 | 第63-64页 |
| ·原丝，污染丝及清洗丝的内表面对比 | 第63-64页 |
| ·原丝，污染丝及清洗丝的外表面对比 | 第64页 |
| ·XPS能谱分析 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 全文总结 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |