Windows平台下描绘式显微颗粒测量系统开发及颗粒边缘自动检测研究
| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要 | 第3-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 前言 | 第7-9页 |
| 第一章 颗粒学概论 | 第9-15页 |
| 1．1 颗粒与颗粒学 | 第9页 |
| 1．2 颗粒的分类 | 第9-11页 |
| 1．3 颗粒学的应用 | 第11页 |
| 1．4 颗粒的形貌 | 第11-13页 |
| 1．5 粒度的大小 | 第13-15页 |
| 第二章 颗粒粒度和形貌的测量方法 | 第15-18页 |
| 2．1 颗粒形貌的测量 | 第15页 |
| 2．2 颗粒形状的定量分析 | 第15页 |
| 2．3 颗粒粒度的测量及测量法 | 第15-17页 |
| 2．4 颗粒测量方法的选择 | 第17页 |
| 2．5 显微颗粒测量的历史及发展 | 第17-18页 |
| 第三章 测量系统面向对象开发的方法 | 第18-28页 |
| 3．1 结构化程序的简单回顾 | 第18页 |
| 3．2 面向对象软件开发过程 | 第18-22页 |
| 3．3 软件的测试、调试及可靠性 | 第22-26页 |
| 3．4 测量系统软件面向对象的开发工具 | 第26-28页 |
| 第四章 测量系统的进程与线程原理 | 第28-37页 |
| 4．1 进程与线程 | 第28页 |
| 4．2 Windows的进程与线程管理 | 第28-29页 |
| 4．3 进程与线程的通信问题 | 第29-30页 |
| 4．4 Windows下进程之间通信的具体实现 | 第30-32页 |
| 4．5 Windows下多线程的具体应用 | 第32-37页 |
| 第五章 测量系统的设备驱动程序开发 | 第37-48页 |
| 5．1 Windows的基本框架 | 第37-39页 |
| 5．2 Windows设备驱动程序 | 第39-40页 |
| 5．3 Windows设备驱动程序的选择 | 第40-41页 |
| 5．4 CIH病毒与VxD | 第41-42页 |
| 5．5 开发VxD | 第42-44页 |
| 5．6 设备驱动程序的实现 | 第44-48页 |
| 第六章 显微颗粒测量系统的实现 | 第48-53页 |
| 6．1 测量系统的总体论述 | 第48页 |
| 6．2 图形输入板 | 第48-51页 |
| 6．3 系统程序实现的过程 | 第51-52页 |
| 6．4 与其他测量系统的比较 | 第52-53页 |
| 第七章 显微颗粒测量系统的实验结果 | 第53-59页 |
| 7．1 样品说明 | 第53-54页 |
| 7．2 样品的粒度测量结果 | 第54-56页 |
| 7．3 样品的长宽比测量结果 | 第56-57页 |
| 7．4 样品的方位角测量结果 | 第57页 |
| 7．5 实验总结 | 第57-59页 |
| 第八章 颗粒的显微图像边缘检测 | 第59-63页 |
| 8．1 图像处理综述 | 第59页 |
| 8．2 一种有效的边缘检测的算法 | 第59-62页 |
| 8．3 实验结果 | 第62-63页 |
| 第九章 结束语 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录一 | 第67-69页 |
