| 1 概论 | 第1-17页 |
| 1．1 真空电弧的燃弧特性 | 第7-11页 |
| 1．2 真空电弧的弧后恢复特性 | 第11-13页 |
| 1．3 我国真空断路器运行情况分析 | 第13-15页 |
| 1．3．1 有关的 计资料 | 第13-14页 |
| 1．3．2 东莞电力系 真空断路器的使用情况及试验方法分析 | 第14-15页 |
| 1．4 本课题的工作重点 | 第15-17页 |
| 2 真空灭弧室中蒸汽屏蔽罩作用的实验研究 | 第17-34页 |
| 2．1 真空灭弧室蒸汽屏蔽罩电压的测量方法 | 第18-21页 |
| 2．1．1 测试原理 | 第18-19页 |
| 2．1．2 本测量装置中几个关键问题的解决 | 第19-21页 |
| 2．2 燃弧过程中蒸汽屏蔽罩的电位变化 | 第21-26页 |
| 2．2．1 蒸汽屏蔽罩电压与电弧电流的关系 | 第22-23页 |
| 2．2．2 蒸汽屏蔽罩电压与电弧电压的关系 | 第23-24页 |
| 2．2．3 真空电弧在纵、横向磁场中燃弧的区别 | 第24-26页 |
| 2．3 弧后介质强度恢复过程中蒸汽屏蔽罩电位的变化 | 第26-33页 |
| 2．3．1 真空灭弧室在标准恢复电压作用下 | 第26-29页 |
| 2．3．1．1 弧后恢复过程的不稳定性 | 第26-27页 |
| 2．3．1．2 弧后恢复过程中屏蔽罩电压幅值的变化 | 第27-28页 |
| 2．3．1．3 弧后恢复过程中屏蔽罩电压相位的变化 | 第28-29页 |
| 2．3．2 真空灭弧室在高频恢复电压作用下 | 第29-33页 |
| 2．3．2．1 恢复电压幅值一定，断电流变化 | 第29-31页 |
| 2．3．2．2 弧后零区附近波形分析 | 第31-32页 |
| 2．3．2．3 断失败的恢复电压与蒸汽屏蔽罩电位的关系 | 第32-33页 |
| 2．4 小结 | 第33-34页 |
| 3 真空灭弧室蒸汽屏蔽罩的理论研究 | 第34-51页 |
| 3．1 燃弧过程的数学模型及理论分析 | 第35-38页 |
| 3．1．1 模型的建立和关系式的推导 | 第35-37页 |
| 3．1．2 对模型及方程的分析讨论 | 第37-38页 |
| 3．2 弧后介质强度恢复过程的数学模型及理论分析 | 第38-49页 |
| 3．2．1 弧后介质强度恢复过程中蒸汽屏蔽罩的作用 | 第38-39页 |
| 3．2．2 残余等离子体消散的数学模型 | 第39-42页 |
| 3．2．3 电压关系的数学模型和关系式的推导 | 第42-44页 |
| 3．2．4 对模型及方程的分析讨论 | 第44-49页 |
| 3．3 小结 | 第49-51页 |
| 4 真空灭弧室真空度监测方法研究 | 第51-68页 |
| 4．1 真空度监测方法研究的必要性 | 第51页 |
| 4．2 真空灭弧室的真空度 | 第51-54页 |
| 4．2．1 真空度下降原因 | 第51-53页 |
| 4．2．2 真空灭弧室中的极限真空度 | 第53-54页 |
| 4．3 真空度下降后真空灭弧室的 断性能 | 第54-56页 |
| 4．3．1 低真空领域中的 断能力 | 第54-55页 |
| 4．3．2 高频 断性能 | 第55-56页 |
| 4．3．3 燃弧时间试验 | 第56页 |
| 4．4 真空灭弧室中真空度的离线检测方法 | 第56-58页 |
| 4．4．1 施加电压法 | 第57页 |
| 4．4．2 真空度检测仪 | 第57-58页 |
| 4．5 真空度在线监测方法 | 第58-60页 |
| 4．5．1 盖特膜法 | 第58-59页 |
| 4．5．2 光电检测法 | 第59页 |
| 4．5．3 辉光放电法 | 第59-60页 |
| 4．6 真空灭弧室中屏蔽罩电位与真空度的关系 | 第60-64页 |
| 4．6．1 真空灭弧室蒸汽屏蔽罩电位的形成 | 第60页 |
| 4．6．2 真空灭弧室触头分、合闸状态下屏蔽罩电位与触头间电压的关系 | 第60页 |
| 4．6．3 在燃弧过程中，屏蔽罩电位与触头间电压的关系 | 第60-61页 |
| 4．6．4 在弧后介质强度恢复过程，蒸汽屏蔽罩电位与触头间电压的关系 | 第61-62页 |
| 4．6．5 试验方法 | 第62页 |
| 4．6．6 试验结果与分析 | 第62-64页 |
| 4．6．6．1 灭弧室触头分、合闸状态下屏蔽罩电位与触头间电压的关系 | 第63页 |
| 4．6．6．2 在燃弧过程中，蒸汽屏蔽罩电位与触头间电压的关系 | 第63-64页 |
| 4．6．6．3 在弧后介质强度恢复过程，屏蔽罩电位与触头间电压的关系 | 第64页 |
| 4．7 小结 | 第64-66页 |
| 5 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
