电子散射对微光像增强器分辨力的影响研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-15页 |
| ·微光像增强器 | 第7-12页 |
| ·微光像增强器成像原理 | 第7-8页 |
| ·微光像增强器及其分辨力发展现状 | 第8-12页 |
| ·国内外研究情况简介 | 第12-13页 |
| ·本论文的背景及意义 | 第13-14页 |
| ·本论文的主要工作 | 第14-15页 |
| 2 像增强器的分辨力分析 | 第15-27页 |
| ·像管的分辨力 | 第15-19页 |
| ·分辨力简介 | 第15-18页 |
| ·理论计算分辨力 | 第18-19页 |
| ·影响分辨力的主要技术参数 | 第19-25页 |
| ·光阴极电子输出能量分布及角度分布 | 第19-22页 |
| ·双近贴距离及双静电聚焦电压 | 第22-24页 |
| ·MCP电子散射 | 第24-25页 |
| ·简介分辨力测试平台 | 第25-27页 |
| 3 MCP的电子散射分析 | 第27-40页 |
| ·次级电子发射理论 | 第27-33页 |
| ·二次电子发射 | 第27-29页 |
| ·次级电子的能量分布与角度分布 | 第29-31页 |
| ·次级发射系数δ的讨论 | 第31-33页 |
| ·电子散射造成的MCP弥散圆斑 | 第33-36页 |
| ·MCP结构及工作原理简介 | 第33-34页 |
| ·MCP弥散圆斑的形成 | 第34-36页 |
| ·电子散射对噪声的影响 | 第36-40页 |
| ·电子散射产生的噪声 | 第36-37页 |
| ·MCP扩口工艺对散射噪声的改善 | 第37-40页 |
| 4 像管中电子光学系统的计算机辅助设计 | 第40-53页 |
| ·简介像管中的双近贴电子光学系统 | 第40-42页 |
| ·电子光学中的场与轨迹 | 第42-44页 |
| ·电子光学中的场 | 第42-44页 |
| ·电子光学中的轨迹 | 第44页 |
| ·场与电子轨迹的数值计算研究 | 第44-53页 |
| ·电场的数值求解 | 第45-47页 |
| ·电子轨迹的数值求解 | 第47-50页 |
| ·数值计算的细节问题 | 第50-53页 |
| 5 像增强器分辨力的计算结果与分析 | 第53-71页 |
| ·像管电场的计算 | 第53-57页 |
| ·电场边界的处理和网格点分类 | 第53-54页 |
| ·计算像管的电位分布及结果分析 | 第54-57页 |
| ·像管等位线的计算 | 第57-60页 |
| ·等位线的追迹方法 | 第57页 |
| ·计算像管的等位线及结果分析 | 第57-60页 |
| ·像管电子轨迹的追迹计算 | 第60-65页 |
| ·轨迹起点的计算以及追迹方法 | 第60-62页 |
| ·计算像管中有电子散射的电子轨迹及结果分析 | 第62-65页 |
| ·对分辨力的影响分析 | 第65-71页 |
| 6 结束语 | 第71-73页 |
| ·本文的工作总结 | 第71页 |
| ·本文的创新点 | 第71-72页 |
| ·有待进一步开展的工作 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
