相控阵雷达天线近场测试系统发展与研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| ·研究的背景 | 第9-10页 |
| ·研究意义及目的 | 第10-11页 |
| ·论文的结构 | 第11-12页 |
| 2 天线近场测试系统的发展及现状 | 第12-16页 |
| ·技术发展过程 | 第12-14页 |
| ·天线近场测量系统分布 | 第14-16页 |
| 3 相控阵雷达天线原理概述及特点 | 第16-24页 |
| ·相控阵雷达天线概述 | 第16页 |
| ·相控阵天线的特点与应用 | 第16-18页 |
| ·相控阵天线原理 | 第18-24页 |
| ·线阵天线的方向图函数 | 第18-20页 |
| ·线阵与线阵方向图的简化 | 第20-21页 |
| ·线阵天线波束最大值指向与相控阵天线波束扫描原理 | 第21页 |
| ·平面相控阵天线的方向图及波束扫描原理 | 第21-24页 |
| 4 天线近场测试系统原理及组成 | 第24-47页 |
| ·天线近场测量技术概述 | 第24-25页 |
| ·平面扫描的近场测量的基本原理 | 第25-28页 |
| ·平面波展开 | 第25-27页 |
| ·测量面位置和取样间隔的选取 | 第27-28页 |
| ·天线近场测试系统硬件组成 | 第28-43页 |
| ·测试分系统 | 第29-38页 |
| ·矢量网络分析仪 | 第29-37页 |
| ·微波接口适配器 | 第37-38页 |
| ·波控定时信号仿真器 | 第38页 |
| ·测试主控计算机 | 第38页 |
| ·伺服扫描架分系统 | 第38-42页 |
| ·扫描架 | 第39-40页 |
| ·伺服控制 | 第40-42页 |
| ·微波暗室 | 第42-43页 |
| ·相控阵天线近场测试系统软件组成 | 第43-47页 |
| ·伺服控制软件 | 第43-44页 |
| ·波束控制软件 | 第44页 |
| ·数据采样软件 | 第44-45页 |
| ·数据分析软件 | 第45-47页 |
| 5 相控阵天线多任务近场测试系统的组建与实现 | 第47-65页 |
| ·被测天线基本参数和测试任务 | 第48页 |
| ·测试需求分析及系统设计 | 第48-55页 |
| ·微波暗室及扫描架设计安装 | 第48-50页 |
| ·伺服控制方案设计 | 第50-51页 |
| ·测试仪表选型 | 第51-54页 |
| ·系统定时仿真设备设计及工作时序分析 | 第54-55页 |
| ·系统的组成及工作原理 | 第55-64页 |
| ·系统框图 | 第56页 |
| ·测试原理 | 第56-57页 |
| ·系统控制流程 | 第57-58页 |
| ·测试时间和工作效率分析 | 第58-64页 |
| ·系统使用效果 | 第64-65页 |
| 6 结论 | 第65-67页 |
| ·研制总结 | 第65页 |
| ·展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68页 |
