中文摘要 | 第1页 |
英文摘要 | 第4-8页 |
第一章 引言 | 第8-13页 |
·研究的目的和意义 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-12页 |
·绝缘子在线检测方法 | 第9-10页 |
·非电量检测法 | 第9-10页 |
·电量检测法 | 第10页 |
·绝缘子污秽程度预测方法 | 第10-12页 |
·本论文的主要工作 | 第12-13页 |
第二章 悬式绝缘子污秽实验方法 | 第13-18页 |
·实验原理与装置 | 第13-16页 |
·试验方法 | 第16-17页 |
·人工污秽试验 | 第16页 |
·测量染污绝缘子泄漏电流的试验方法 | 第16-17页 |
·小结 | 第17-18页 |
第三章 污秽绝缘子泄漏电流测量系统设计 | 第18-27页 |
·虚拟仪器技术 | 第18页 |
·数据采集系统的硬件组成 | 第18-22页 |
·电流传感器的选取 | 第19-21页 |
·数据采集卡的选取 | 第21-22页 |
·LABVIEW 编程语言 | 第22页 |
·数据采集系统的软件组成 | 第22-26页 |
·系统的总体设计 | 第22-24页 |
·数据的实时采集与存储 | 第24-25页 |
·数据的回放 | 第25页 |
·数据的初步分析处理 | 第25-26页 |
·小结 | 第26-27页 |
第四章 染污绝缘子泄漏电流测量试验的研究 | 第27-40页 |
·染污绝缘子表面泄漏电流变化与污闪放电过程分析 | 第27-28页 |
·染污绝缘子泄漏电流特征量描述 | 第28-29页 |
·染污绝缘子表面泄漏电流变化情况描述 | 第29-32页 |
·染污绝缘子泄漏电流与相对湿度的关系 | 第32-35页 |
·相对湿度的描述 | 第33页 |
·泄漏电流有效值与RH 的关系 | 第33-34页 |
·泄漏电流放电脉冲数与RH 的关系 | 第34-35页 |
·泄漏电流高次谐波幅值(三次)与基波幅值的比值与RH 的关系 | 第35页 |
·染污绝缘子泄漏电流与ESDD 的关系 | 第35-37页 |
·泄漏电流有效值与ESDD 的关系 | 第35-36页 |
·泄漏电流放电脉冲数与ESDD 的关系 | 第36页 |
·泄漏电流高次谐波幅值(三次)与基波幅值的比值与ESDD 的关系 | 第36-37页 |
·染污绝缘子泄漏电流与NSDD 的关系 | 第37-39页 |
·泄漏电流有效值与NSDD 的关系 | 第37-38页 |
·泄漏电流放电脉冲数与NSDD 的关系 | 第38页 |
·泄漏电流高次谐波幅值(三次)与基波幅值的比值与NSDD 的关系 | 第38-39页 |
·小结 | 第39-40页 |
第五章 粒子群算法的基本理论 | 第40-46页 |
·研究基础 | 第40页 |
·优化问题简介 | 第40页 |
·局部优化和全局优化 | 第40页 |
·群体智能 | 第40-41页 |
·粒子群算法简介 | 第41-42页 |
·基本粒子群算法 | 第42-45页 |
·粒子群算法的行为参数设置 | 第42-44页 |
·基本粒子群算法的算法流程 | 第44-45页 |
·小结 | 第45-46页 |
第六章 基于粒子群算法与 BP 神经网络的绝缘子表面状况预测 | 第46-55页 |
·BP 神经网络基本概念和特征 | 第46-47页 |
·BP 神经网络的基本结构 | 第47-48页 |
·BP 神经网络的主要不足 | 第48-49页 |
·粒子群算法优化的BP 神经网络模型 | 第49-51页 |
·预测结果及分析 | 第51-54页 |
·污秽度预测中的两种情况分析 | 第51-53页 |
·与实际情况结合的预测结果 | 第53-54页 |
·小结 | 第54-55页 |
第七章 结论 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第61页 |