小磁瓦微缺陷可视化检测系统研发
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 基于机器视觉磁材缺陷检测研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 研究内容 | 第15-18页 |
| 1.3.1 检测内容及测量要求 | 第15-16页 |
| 1.3.2 磁瓦缺陷检测的难点 | 第16页 |
| 1.3.3 本文的章节安排 | 第16-18页 |
| 第二章 小磁瓦微缺陷检测系统总体设计 | 第18-28页 |
| 2.1 小磁瓦缺陷检测总体设计要求 | 第18页 |
| 2.2 机械部分设计 | 第18-20页 |
| 2.2.1 机构系统 | 第19-20页 |
| 2.3 控制部分设计 | 第20-21页 |
| 2.4 视觉部分设计 | 第21-25页 |
| 2.5 软件部分设计 | 第25-27页 |
| 2.6 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 小磁瓦图像预处理算法 | 第28-42页 |
| 3.1 ROI区域本体图像提取 | 第28-31页 |
| 3.1.1 直方图法 | 第28-29页 |
| 3.1.2 迭代阈值法 | 第29页 |
| 3.1.3 最大类间方差阈值法 | 第29-31页 |
| 3.2 小磁瓦表面缺陷图像去噪算法研究 | 第31-37页 |
| 3.2.1 频域滤波 | 第31-33页 |
| 3.2.2 中值滤波 | 第33-34页 |
| 3.2.3 均值滤波 | 第34-35页 |
| 3.2.4 改进的均值滤波 | 第35-37页 |
| 3.3 基于小磁瓦图像边缘检测 | 第37-41页 |
| 3.3.1 基于小磁瓦图像边缘检测 | 第38-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 小磁瓦表面缺陷检测 | 第42-54页 |
| 4.1 小磁瓦表面微缺陷检测原理 | 第42-43页 |
| 4.2 小磁瓦表面微缺陷检测提取 | 第43-50页 |
| 4.2.1 第一类区域提取方法 | 第43-44页 |
| 4.2.2 第二类缺陷提取方法 | 第44-48页 |
| 4.2.3 第三类小磁瓦表面微缺陷区域提取方法 | 第48-50页 |
| 4.3 性能分析和实验结果 | 第50-53页 |
| 4.3.1 参数变量分析 | 第50-51页 |
| 4.3.2 稳定性分析 | 第51-52页 |
| 4.3.3 检测算法比较 | 第52-53页 |
| 4.3.4 实验结果 | 第53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 小磁瓦尺寸测量 | 第54-63页 |
| 5.1 相机标定 | 第54-55页 |
| 5.2 小磁瓦尺寸测量 | 第55-62页 |
| 5.2.1 仿射变换 | 第56-57页 |
| 5.2.2 尺寸测量 | 第57-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 小磁瓦微缺陷检测系统界面介绍 | 第63-68页 |
| 6.1 MVC 架构及其在 MFC 中的实现 | 第63-64页 |
| 6.2 模块功能划分 | 第64-67页 |
| 6.2.1 图像采集模块 | 第64-65页 |
| 6.2.2 图像处理模块 | 第65页 |
| 6.2.3 数据管理模块 | 第65-66页 |
| 6.2.4 显示模块 | 第66-67页 |
| 6.3 本章小结 | 第67-68页 |
| 第七章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间研究成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
