| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-31页 |
| 1.1 引言 | 第12-13页 |
| 1.2 高速光电子器件频域特性测试概述 | 第13-20页 |
| 1.2.1 频域特性概述 | 第13-14页 |
| 1.2.2 频域特性测试概述 | 第14-20页 |
| 1.3 高速光电子器件频域特性的测试技术现状 | 第20-27页 |
| 1.3.1 高速电光强度调制器频域特性的测试技术现状 | 第20-22页 |
| 1.3.2 高速电光相位调制器频域特性的测试技术现状 | 第22-24页 |
| 1.3.3 高速光电探测器响应度的测试技术现状 | 第24-27页 |
| 1.4 本文的主要创新点 | 第27-28页 |
| 1.5 本文的结构安排 | 第28-31页 |
| 第二章 基于自外差的高频测试理论 | 第31-42页 |
| 2.1 传统自外差基础理论 | 第31-33页 |
| 2.2 声光移频外差测试原理 | 第33-35页 |
| 2.3 接力移频外差测试原理 | 第35-38页 |
| 2.4 双音调制外差测试原理 | 第38-41页 |
| 2.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第三章 马赫-曾德尔调制器高频特性测试 | 第42-80页 |
| 3.1 马赫-曾德尔调制器概述 | 第42-47页 |
| 3.1.1 器件类型 | 第42-44页 |
| 3.1.2 频域特性参数 | 第44-47页 |
| 3.2 基于声光移频外差的MZM啁啾参数高频测试 | 第47-53页 |
| 3.2.1 测试方案 | 第48-50页 |
| 3.2.2 实验验证 | 第50-53页 |
| 3.2.3 误差分析 | 第53页 |
| 3.3 基于接力移频外差的MZM半波电压和啁啾参数高频测试 | 第53-60页 |
| 3.3.1 测试方案 | 第54-56页 |
| 3.3.2 实验验证 | 第56-58页 |
| 3.3.3 误差分析 | 第58-60页 |
| 3.4 基于双音调制外差的MZM半波电压高频测试 | 第60-78页 |
| 3.4.1 推挽式MZM | 第61-66页 |
| 3.4.2 双电极MZM | 第66-71页 |
| 3.4.3 双平行MZM | 第71-76页 |
| 3.4.4 误差分析 | 第76-78页 |
| 3.5 本章小结 | 第78-80页 |
| 第四章 电光相位调制器高频特性测试 | 第80-97页 |
| 4.1 基于声光移频外差的电光相位调制器半波电压高频测试 | 第80-92页 |
| 4.1.1 近频检测的移频外差法 | 第82-85页 |
| 4.1.2 半频检测的移频外差法 | 第85-88页 |
| 4.1.3 低频检测的移频外差法 | 第88-92页 |
| 4.2 基于接力移频外差的电光相位调制器半波电压高频测试 | 第92-96页 |
| 4.2.1 测试方案 | 第92-93页 |
| 4.2.2 实验验证 | 第93-95页 |
| 4.2.3 误差分析 | 第95-96页 |
| 4.3 本章小结 | 第96-97页 |
| 第五章 光电探测器高频特性测试 | 第97-105页 |
| 5.1 基于声光移频外差的光电探测器响应度高频测试 | 第97-101页 |
| 5.2 基于双音调制外差的光电探测器响应度高频测试 | 第101-104页 |
| 5.3 本章小结 | 第104-105页 |
| 第六章 基于自外差的高频测试平台及技术应用 | 第105-119页 |
| 6.1 自校准一体化高频测试平台 | 第105-111页 |
| 6.1.1 技术方案 | 第105-107页 |
| 6.1.2 实验演示 | 第107-110页 |
| 6.1.3 特点对比 | 第110-111页 |
| 6.2 光子辅助微波测频系统 | 第111-118页 |
| 6.2.1 系统方案 | 第113-115页 |
| 6.2.2 数值仿真 | 第115-117页 |
| 6.2.3 实验验证 | 第117-118页 |
| 6.3 本章小结 | 第118-119页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第119-121页 |
| 7.1 全文总结 | 第119-120页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第120-121页 |
| 致谢 | 第121-122页 |
| 参考文献 | 第122-141页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第141-145页 |
