| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 镁和镁合金的发展与应用 | 第11-13页 |
| 1.2 镁和镁合金的研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 本课题研究的背景和意义 | 第14-17页 |
| 第2章 内耗原理 | 第17-29页 |
| 2.1 内耗的意义 | 第17-18页 |
| 2.2 内耗的量度 | 第18-19页 |
| 2.3 内耗测量的方法 | 第19-22页 |
| 2.4 内耗峰 | 第22-25页 |
| 2.5 内耗测量仪器 | 第25-26页 |
| 2.6 内耗数据的处理 | 第26-29页 |
| 2.6.1 内耗数据的拟合 | 第26-27页 |
| 2.6.2 弛豫内耗激活能的计算 | 第27-29页 |
| 第3章 实验内容 | 第29-37页 |
| 3.1 研究材料 | 第29-30页 |
| 3.2 试样的制备 | 第30-33页 |
| 3.2.1 新鲜内耗样品 | 第30页 |
| 3.2.2 试样经过加热处理 | 第30-31页 |
| 3.2.3 内耗试样不同放置时间处理 | 第31-32页 |
| 3.2.4 内耗试样变形处理 | 第32页 |
| 3.2.5 金相试样制备 | 第32页 |
| 3.2.6 XRD试样制备 | 第32-33页 |
| 3.3 主要检测和分析方法 | 第33-37页 |
| 3.3.1 内耗力学谱分析 | 第33-35页 |
| 3.3.2 XRD检测分析 | 第35页 |
| 3.3.3 金相组织观察 | 第35-37页 |
| 第4章 铸态纯铝不同晶区内耗谱 | 第37-49页 |
| 4.1 XRD图谱 | 第38页 |
| 4.2 金相观测 | 第38-40页 |
| 4.3 内耗检测 | 第40-45页 |
| 4.3.1 不同晶区新鲜试样的内耗谱 | 第40-42页 |
| 4.3.2 不同晶区加热处理后内耗谱 | 第42-45页 |
| 4.4 讨论 | 第45-47页 |
| 4.4.1 铸态铝不同晶区内耗谱分析 | 第45-46页 |
| 4.4.2 560 K附近内耗峰激活能 | 第46-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 第5章 铸态镁不同晶区内耗谱 | 第49-65页 |
| 5.1 XRD图谱分析 | 第49-50页 |
| 5.2 金相观测 | 第50-52页 |
| 5.2.1 铸态镁新鲜试样金相图 | 第50-51页 |
| 5.2.2 铸态镁热处理后金相图 | 第51-52页 |
| 5.3 内耗检测 | 第52-57页 |
| 5.3.1 新鲜试样内耗谱 | 第52-54页 |
| 5.3.2 热处理后内耗谱 | 第54-57页 |
| 5.4 讨论 | 第57-62页 |
| 5.4.1 铸态镁内耗峰机理 | 第57-60页 |
| 5.4.2 525 K附近内耗峰激活能 | 第60-62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-65页 |
| 第6章 铸态镁冷变形处理内耗谱 | 第65-73页 |
| 6.1 金相观测 | 第65页 |
| 6.2 内耗检测 | 第65-70页 |
| 6.2.1 冷变形处理和冷变形再加热处理后内耗谱 | 第65-67页 |
| 6.2.2 不同放置时间处理后内耗谱 | 第67-70页 |
| 6.3 讨论 | 第70-71页 |
| 6.3.1 冷变形对铸态镁内耗谱的影响 | 第70-71页 |
| 6.3.2 冷变形后再加热处理对铸态镁内耗谱的影响 | 第71页 |
| 6.3.3 不同放置时间对内耗谱的影响 | 第71页 |
| 6.4 本章小结 | 第71-73页 |
| 第7章 结论 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79页 |