| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-14页 |
| 1.2 触摸屏技术及其发展趋势 | 第14-18页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第18-26页 |
| 1.4 本文主要研究内容及各章安排 | 第26-28页 |
| 第二章 触摸屏生产工艺与表面缺陷分析 | 第28-43页 |
| 2.1 触摸屏工作原理 | 第28-29页 |
| 2.2 触摸屏结构、生产工艺简介及缺陷类型分析 | 第29-37页 |
| 2.3 表面缺陷检测图像来源与自动检测系统设计 | 第37-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 基于主成分分析的盖板玻璃表面缺陷检测与识别 | 第43-66页 |
| 3.1 盖板玻璃表面缺陷检测原理 | 第43-45页 |
| 3.2 盖板玻璃图像表面缺陷预处理 | 第45-52页 |
| 3.3 基于主成分分析的盖板玻璃缺陷检测 | 第52-58页 |
| 3.4 基于边界追踪算法的缺陷边缘提取 | 第58-59页 |
| 3.5 实验结果 | 第59-65页 |
| 3.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第四章 基于冗余字典稀疏表示的触摸屏缺陷检测 | 第66-80页 |
| 4.1 问题描述 | 第66-68页 |
| 4.2 基于冗余字典的稀疏表示理论 | 第68-71页 |
| 4.3 触摸屏表面缺陷字典的构造及原子选择 | 第71-73页 |
| 4.4 低分辨率触摸屏图像缺陷检测步骤 | 第73-75页 |
| 4.5 实验结果 | 第75-79页 |
| 4.6 本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 基于低秩矩阵重构的触摸屏图像缺陷提取 | 第80-102页 |
| 5.1 问题描述 | 第80-82页 |
| 5.2 低秩矩阵重构 | 第82-85页 |
| 5.3 基于低秩矩阵重构的表面缺陷提取算法 | 第85-93页 |
| 5.4 实验结果 | 第93-101页 |
| 5.5 本章小结 | 第101-102页 |
| 结论与展望 | 第102-104页 |
| 参考文献 | 第104-114页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第114-116页 |
| 致谢 | 第116-117页 |
| 附件 | 第117页 |