| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.1.1 4G 技术的发展及其特点 | 第8-9页 |
| 1.1.2 TDD-LTE 的现状 | 第9页 |
| 1.1.3 课题研究内容 | 第9页 |
| 1.2 章节安排 | 第9-11页 |
| 第二章 射频收发模块结构及 LTE 关键技术 | 第11-24页 |
| 2.1 终端发射机 | 第11-16页 |
| 2.1.1 发射机结构 | 第11-12页 |
| 2.1.2 发射机数字调制 | 第12-15页 |
| 2.1.3 数字预失真（DPD） | 第15-16页 |
| 2.2 终端接收机 | 第16-19页 |
| 2.2.1 接收机结构 | 第16-17页 |
| 2.2.2 自动增益控制 | 第17-18页 |
| 2.2.3 A/D 转换 | 第18-19页 |
| 2.3 LTE 关键技术 | 第19-22页 |
| 2.3.1 OFDM 技术 | 第19-20页 |
| 2.3.2 MIMO 技术 | 第20-21页 |
| 2.3.3 载波聚合技术 | 第21-22页 |
| 2.3.4 LTE 其他关键技术 | 第22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-24页 |
| 第三章 TDD-LTE 发射链路及其新技术 | 第24-29页 |
| 3.1 终端发射机 | 第24-27页 |
| 3.1.1 终端发射机结构 | 第24页 |
| 3.1.2 功率放大器 | 第24-26页 |
| 3.1.3 滤波器 | 第26-27页 |
| 3.2 包络跟踪 | 第27-28页 |
| 3.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 终端射频测试设备及测试标准 | 第29-36页 |
| 4.1 TDD-LTE 射频测试设备 | 第29-31页 |
| 4.1.1 直流电源 | 第29页 |
| 4.1.2 网络分析仪 | 第29页 |
| 4.1.3 频谱分析仪 | 第29-30页 |
| 4.1.4 射频综测仪 | 第30-31页 |
| 4.2 TDD-LTE 射频测试内容及标准 | 第31-35页 |
| 4.2.1 发射模块测试项目 | 第31-34页 |
| 4.2.2 接收模块测试项目 | 第34-35页 |
| 4.3 本章小结 | 第35-36页 |
| 第五章 TDD-LTE Band40 射频链路设计 | 第36-49页 |
| 5.1 射频链路元器件 | 第36-42页 |
| 5.1.1 功率放大器元件 | 第36-39页 |
| 5.1.2 滤波器元件 | 第39-40页 |
| 5.1.3 LTE FBAR 滤波器特性分析 | 第40-42页 |
| 5.2 射频链路设计 | 第42-45页 |
| 5.2.1 射频链路 PCB 布局 | 第42-43页 |
| 5.2.2 PCB Layout 走线 | 第43-45页 |
| 5.3 仿真及优化 | 第45-48页 |
| 5.3.1 射频链路仿真 | 第45-46页 |
| 5.3.2 调试结果 | 第46-48页 |
| 5.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第六章 终端射频测试标准及结果 | 第49-64页 |
| 6.1 发射接收机测试结果 | 第49-63页 |
| 6.2 本章小结 | 第63-64页 |
| 第七章 二次谐波问题及其解决方案 | 第64-68页 |
| 7.1 综述 | 第64页 |
| 7.2 谐波产生原因及其危害 | 第64-65页 |
| 7.2.1 谐波产生原因 | 第64-65页 |
| 7.2.2 谐波危害 | 第65页 |
| 7.3 项目中二次谐波现象 | 第65页 |
| 7.4 LC 低通滤波器解决方案 | 第65-67页 |
| 7.4.1 LC 滤波器 | 第65-66页 |
| 7.4.2 低通 LC 滤波器抑制二次谐波 | 第66-67页 |
| 7.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第八章 全文总结 | 第68-70页 |
| 8.1 结论 | 第68页 |
| 8.2 研究展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 缩略语表（附录 1） | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第75-77页 |