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磷硅化合物的晶体生长与性质表征

摘要第8-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 绪论第12-49页
    1.1 二维层状化合物介绍第12-21页
        1.1.1 几种常见的二维层状化合物介绍第13-20页
        1.1.2 新型的Ⅳ-Ⅴ (SiP, SiAs,GeP, GeAs)二维层状化合物第20-21页
    1.2 常用制备单层(少层)二维材料的方法第21-23页
    1.3 第一性原理计算简介第23-24页
    1.4 二维材料各向异性性质研究及应用第24-33页
        1.4.1 常见二维材料的各向异性性质第24-31页
        1.4.2 二维材料各向异性应用第31-33页
    1.5 三元磷硅化合物CdSiP_2 (CSP)晶体生长第33-38页
        1.5.1 熔体法晶体生长——Bridgman法(布里奇曼法)第34-37页
        1.5.2 助熔剂法晶体生长第37-38页
    1.6 本论文的研究意义、目的和内容第38-39页
        1.6.1 本论文的研究意义及目的第38页
        1.6.2 本论文的主要内容第38-39页
    1.7 参考文献第39-49页
第二章 二维半导体o-SiP制备及基本性质表征第49-71页
    2.1 引言第49页
    2.2 o-SiP晶体生长第49-50页
    2.3 体块o-SiP性质的基本表征第50-67页
    2.4 本章小结第67页
    2.5 参考文献第67-71页
第三章 o-SiP剥离及第一性原理计算第71-83页
    3.1 引言第71-72页
    3.2 利用第一性原理计算o-SiP带隙第72-78页
    3.3 o-SiP剥离实验第78-81页
    3.4 本章小结第81页
    3.5 参考文献第81-83页
第四章 o-SiP面内各向异性Raman光谱及光响应研究第83-93页
    4.1 引言第83-84页
    4.2 o-SiP各向异性研究第84-90页
        4.2.1 Raman光谱的面内各向异性研究第84-87页
        4.2.2 光响应的面内各向异性研究第87-90页
    4.3 本章小结第90-91页
    4.4 引用文献第91-93页
第五章 CdSiP_2多晶料合成与晶体生长第93-115页
    5.1 引言第93-94页
    5.2 CSP多晶料合成第94-99页
        5.2.1 方法及设备第94-96页
        5.2.2 实验过程第96-97页
        5.2.3 CSP多晶料合成的结果与讨论第97-99页
    5.3 垂直Bridgman法生长CdSiP_2晶体第99-106页
        5.3.1 传统Bridgman法生长CSP晶体第99-104页
        5.3.2 加压Bridgman法生长CSP晶体第104-106页
    5.4 助熔剂法生长CSP晶体第106-110页
    5.5 本章小结第110-111页
    5.6 参考文献第111-115页
第六章 总结与展望第115-117页
    6.1 主要结论第115-116页
    6.2 创新点第116页
    6.3 有待开展的工作第116-117页
致谢第117-119页
攻读学位期间发表的论文第119-120页
附件第120-126页
学位论文评阅及答辩情况表第126页

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