| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第14-32页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第14-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-25页 |
| 1.2.1 射频连接器研究现状 | 第16-20页 |
| 1.2.2 电接触可靠性研究现状 | 第20-23页 |
| 1.2.3 故障诊断研究现状 | 第23-25页 |
| 1.3 论文创新点 | 第25-28页 |
| 1.3.1 建立了接触表面的微观物理特征与宏观阻抗参数的关系 | 第26-27页 |
| 1.3.2 建立了电接触失效特征与射频同轴连接器高频性能参数的关系 | 第27页 |
| 1.3.3 揭示了电接触失效对信号传输质量的影响机理及影响规律 | 第27-28页 |
| 1.3.4 提出了一种适用于通信系统中连接器的故障诊断方法 | 第28页 |
| 1.4 论文主要工作 | 第28-32页 |
| 第二章 高频电接触失效机理研究 | 第32-66页 |
| 2.1 引言 | 第32-33页 |
| 2.2 电接触特征分析 | 第33-41页 |
| 2.2.1 接触材料 | 第33-35页 |
| 2.2.2 接触表面粗糙度 | 第35-38页 |
| 2.2.3 接触几何结构 | 第38-39页 |
| 2.2.4 失效表面特征 | 第39-41页 |
| 2.3 电接触等效电路模型研究 | 第41-51页 |
| 2.3.1 电接触等效阻抗模型 | 第41-44页 |
| 2.3.2 模型参数计算 | 第44-51页 |
| 2.4 射频连接器阻抗效应实验研究 | 第51-64页 |
| 2.4.1 实验样本 | 第51-55页 |
| 2.4.2 实验设置 | 第55-56页 |
| 2.4.3 实验结果 | 第56-64页 |
| 2.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第三章 射频同轴连接器电接触失效引起的参数退化特征 | 第66-94页 |
| 3.1 引言 | 第66-67页 |
| 3.2 射频同轴连接器等效电路模型研究 | 第67-73页 |
| 3.2.1 等效电路建模 | 第67-68页 |
| 3.2.2 电路参数计算 | 第68-69页 |
| 3.2.3 高频特征参数计算 | 第69-73页 |
| 3.3 射频同轴连接器等效传输线模型研究 | 第73-81页 |
| 3.3.1 传输线理论建模 | 第73-78页 |
| 3.3.2 高频特征参数计算 | 第78-81页 |
| 3.4 射频同轴连接器3D电磁仿真模型研究 | 第81-88页 |
| 3.4.1 3D电磁仿真建模 | 第81-82页 |
| 3.4.2 频域特性分析 | 第82-85页 |
| 3.4.3 时域特性分析 | 第85-87页 |
| 3.4.4 场强分布分析 | 第87-88页 |
| 3.5 实验测试 | 第88-92页 |
| 3.5.1 实验设置 | 第88-89页 |
| 3.5.2 实验结果 | 第89-92页 |
| 3.6 本章小结 | 第92-94页 |
| 第四章 电接触失效对传输信号影响规律研究 | 第94-112页 |
| 4.1 引言 | 第94-95页 |
| 4.2 失效连接器等效传递函数研究 | 第95-97页 |
| 4.2.1 传递函数计算方法 | 第95-96页 |
| 4.2.2 传递函数幅值和相角 | 第96-97页 |
| 4.3 电接触失效对模拟信号影响研究 | 第97-103页 |
| 4.3.1 幅度调制信号 | 第97-100页 |
| 4.3.2 角度调制信号 | 第100-103页 |
| 4.4 电接触失效对数字基带信号影响研究 | 第103-110页 |
| 4.4.1 数字基带信号特征 | 第103-105页 |
| 4.4.2 时域及频域特性分析 | 第105-106页 |
| 4.4.3 实验测试 | 第106-110页 |
| 4.5 本章小结 | 第110-112页 |
| 第五章 通信系统中连接器的故障检测与定位 | 第112-128页 |
| 5.1 引言 | 第112-113页 |
| 5.2 故障特征信号提取方法研究 | 第113-116页 |
| 5.2.1 系统中不同位置连接器故障对信号的影响特征 | 第113-115页 |
| 5.2.2 测试信号和响应信号选取 | 第115页 |
| 5.2.3 小波变换数据预处理方法 | 第115-116页 |
| 5.3 故障分类方法研究 | 第116-119页 |
| 5.3.1 BP神经网络结构 | 第116-118页 |
| 5.3.2 BP神经网络学习算法 | 第118-119页 |
| 5.4 实例1 | 第119-124页 |
| 5.4.1 待诊断电路建模 | 第119-121页 |
| 5.4.2 故障模式设置 | 第121-122页 |
| 5.4.3 诊断结果与讨论 | 第122-124页 |
| 5.5 实例2 | 第124-127页 |
| 5.5.1 待诊断电路建模 | 第124-125页 |
| 5.5.2 故障模式设置 | 第125-126页 |
| 5.5.3 诊断结果与讨论 | 第126-127页 |
| 5.6 本章小结 | 第127-128页 |
| 第六章 总结与展望 | 第128-132页 |
| 6.1 全文总结 | 第128-130页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第130-132页 |
| 参考文献 | 第132-140页 |
| 致谢 | 第140-142页 |
| 攻读博士期间取得的成果 | 第142-143页 |
