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基于嵌入式技术的电机综合测试系统

摘要第5-7页
ABSTRACT第7页
第一章 绪论第10-14页
    1.1 引言第10页
    1.2 国内外现状第10-11页
    1.3 课题研究背景和意义第11-12页
    1.4 本文章节安排第12-14页
第二章 嵌入式系统介绍第14-17页
    2.1 嵌入式系统的定义第14页
    2.2 嵌入式系统的特点第14-15页
    2.3 嵌入式系统的发展及应用领域第15-16页
    2.4 本章小结第16-17页
第三章 系统总体方案设计第17-28页
    3.1 测量机构硬件方案第17-22页
        3.1.1 电气强度,绝缘电阻测试方案第17页
        3.1.2 冷态电阻测试方案第17-18页
        3.1.3 匝间耐压测试方案第18-22页
    3.2 嵌入式系统硬件方案第22-24页
        3.2.1 处理器的选型第22-24页
        3.2.2 基于LPC2148 外围电路方案第24页
    3.3 软件方案第24-27页
        3.3.1 嵌入式操作系统的选择第24-26页
        3.3.2 基于μC/OS-Ⅱ 的软件构架第26-27页
    3.4 本章小结第27-28页
第四章 基于ARM 的嵌入式系统硬件平台构建与设计第28-40页
    4.1 ARM 处理器介绍第28-32页
        4.1.1 ARM 处理器系列第28-29页
        4.1.2 ARM 7 处理器特点第29-30页
        4.1.3 基于ARM7 的LPC2148 处理器介绍第30-32页
    4.2 各硬件电路模块设计第32-39页
        4.2.1 电源模块、晶振电路及复位电路设计第32-34页
        4.2.2 SD 卡模块设计第34页
        4.2.3 JTAG 调试模块设计第34-36页
        4.2.4 USB 设备模块设计第36-37页
        4.2.5 LCD 和触摸屏模块设计第37-38页
        4.2.6 串口电路设计第38-39页
        4.2.7 键盘电路设计第39页
    4.3 本章小结第39-40页
第五章 软件设计第40-57页
    5.1 嵌入式操作系统构建第40-42页
    5.2 嵌入式操作系统移植第42-52页
        5.2.1 μC/OS-Ⅱ 移植文件准备第42-46页
        5.2.2 μC/OS-Ⅱ 移植的扩展第46-50页
        5.2.3 具体移植过程第50-52页
    5.3 用户程序设计第52-56页
        5.3.1 系统设置第52-54页
        5.3.2 参数显示第54-55页
        5.3.3 数据统计第55页
        5.3.4 数据分析第55-56页
        5.3.5 用户扩展第56页
    5.4 本章小结第56-57页
第六章 总结与展望第57-60页
    6.1 本文总结第57-58页
    6.2 研究展望第58-60页
参考文献第60-62页
致谢第62-63页
攻读学位期间发表的学术论文目录第63页

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