| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第12-34页 |
| 1.1 光子晶体材料简介 | 第12-14页 |
| 1.2 光子晶体光纤的特性 | 第14-20页 |
| 1.2.1 光子晶体光纤的分类与传光机制 | 第14-16页 |
| 1.2.2 光子晶体光纤的独特属性 | 第16-20页 |
| 1.3 光子晶体光纤的结构设计和制备 | 第20-24页 |
| 1.3.1 光子晶体光纤的结构设计方法 | 第20-22页 |
| 1.3.2 光子晶体光纤的制备方法 | 第22-24页 |
| 1.4 光子晶体光纤光电子器件的发展现状 | 第24-32页 |
| 1.4.1 光子晶体光纤非线性效应器件的研究现状 | 第24-27页 |
| 1.4.2 光子晶体光纤传感器的研究现状 | 第27-32页 |
| 1.5 本课题的主要研究内容 | 第32-34页 |
| 第2章 光子晶体光纤的模拟计算方法及其传感器件的制备和测试方法 | 第34-48页 |
| 2.1 光子晶体光纤的有限元模拟方法 | 第34-41页 |
| 2.1.1 FEM 原理及解析步骤 | 第34-38页 |
| 2.1.2 边界条件的选择 | 第38-40页 |
| 2.1.3 计算软件的选择与使用 | 第40-41页 |
| 2.2 光子晶体光纤锥的制备方法 | 第41-44页 |
| 2.2.1 氢氧焰加热 | 第41-42页 |
| 2.2.2 电弧加热 | 第42-44页 |
| 2.3 光子晶体光纤锥的传感测试方法 | 第44-48页 |
| 2.3.1 环境折射率测试 | 第44-45页 |
| 2.3.2 拉伸测试 | 第45-46页 |
| 2.3.3 温度测试 | 第46-48页 |
| 第3章 新型高双折射光子晶体光纤的结构设计及其性能模拟 | 第48-65页 |
| 3.1 引言 | 第48页 |
| 3.2 新型高双折射光子晶体光纤结构设计 | 第48-52页 |
| 3.3 新型高双折射光子晶体光纤的性能 | 第52-61页 |
| 3.3.1 高双折射 | 第52-54页 |
| 3.3.2 近零色散平坦 | 第54-58页 |
| 3.3.3 低限制损耗 | 第58-59页 |
| 3.3.4 有效模场面积 | 第59-61页 |
| 3.4 结构改动对性能的影响 | 第61-64页 |
| 3.4.1 双芯双模光子晶体光纤 | 第61-62页 |
| 3.4.2 八边形外层设计 | 第62-64页 |
| 3.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第4章 非绝热型光子晶体光纤锥的传感特性 | 第65-82页 |
| 4.1 引言 | 第65页 |
| 4.2 光子晶体光纤与普通光纤的无塌缩熔接 | 第65-67页 |
| 4.3 非绝热型光子晶体光纤锥的制备与形貌 | 第67-70页 |
| 4.4 非绝热型光子晶体光纤锥中模式的干涉 | 第70-74页 |
| 4.4.1 双锥中的 Mach-Zehnder 干涉 | 第70-71页 |
| 4.4.2 单锥中的模间干涉 | 第71-74页 |
| 4.5 非绝热型光子晶体光纤锥的传感测试 | 第74-80页 |
| 4.5.1 环境折射率的探测 | 第74-77页 |
| 4.5.2 拉伸应变的测试 | 第77-79页 |
| 4.5.3 温度的响应 | 第79-80页 |
| 4.6 本章小结 | 第80-82页 |
| 第5章 S 形光子晶体光纤锥的传感特性 | 第82-97页 |
| 5.1 引言 | 第82页 |
| 5.2 S 形光子晶体光纤锥的形貌 | 第82-84页 |
| 5.3 光在 S 形光子晶体光纤锥中的传播 | 第84-86页 |
| 5.4 S 形光子晶体光纤锥的几何参数对干涉光谱的影响 | 第86-88页 |
| 5.5 S 形光子晶体光纤锥的传感特性 | 第88-95页 |
| 5.5.1 环境折射率的探测 | 第88-91页 |
| 5.5.2 拉伸应变的测试 | 第91-93页 |
| 5.5.3 温度的测试 | 第93-95页 |
| 5.6 本章小结 | 第95-97页 |
| 结论 | 第97-98页 |
| 参考文献 | 第98-109页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第109-111页 |
| 致谢 | 第111-112页 |
| 个人简历 | 第112页 |
