基于40nm CMOS工艺的12bit 300MS/s采样保持电路研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状和发展趋势 | 第12页 |
| 1.3 本文的主要贡献和创新 | 第12-13页 |
| 1.4 论文的内容和架构 | 第13-14页 |
| 第二章 采样保持电路理论 | 第14-25页 |
| 2.1 采样保持电路基础和性能指标 | 第14-15页 |
| 2.2 采样保持电路时域和频域分析 | 第15-17页 |
| 2.3 采样保持电路结构 | 第17-23页 |
| 2.3.1 开环结构 | 第17-20页 |
| 2.3.1.1 基于二极管桥开关的采样保持电路 | 第18页 |
| 2.3.1.2 基于射随器开关的采样保持电路 | 第18-19页 |
| 2.3.1.3 基于AB类缓冲器的采样保持电路 | 第19-20页 |
| 2.3.2 闭环结构 | 第20-23页 |
| 2.3.2.1 电荷转移型采样保持电路 | 第21-22页 |
| 2.3.2.2 电容翻转型采样保持电路 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结采用的采样保持结构 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 采样保持电路采样相 | 第25-36页 |
| 3.1 误差源 | 第25-28页 |
| 3.1.1 沟道电荷注入 | 第25-26页 |
| 3.1.1.1 提前关断时序 | 第26页 |
| 3.1.2 时钟馈通 | 第26页 |
| 3.1.3 非线性导通电阻 | 第26-27页 |
| 3.1.4 kT/C噪声 | 第27-28页 |
| 3.2 采样开关 | 第28-33页 |
| 3.2.1 NMOS开关 | 第28-29页 |
| 3.2.2 CMOS开关 | 第29-31页 |
| 3.2.3 栅压自举开关 | 第31-33页 |
| 3.3 采用的采样开关结构 | 第33-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 采样保持电路保持相 | 第36-55页 |
| 4.1 误差源 | 第36-38页 |
| 4.1.1 运放噪声 | 第36-37页 |
| 4.1.1.1 热噪声 | 第36页 |
| 4.1.1.2 闪烁噪声 | 第36-37页 |
| 4.1.2 高频耦合 | 第37页 |
| 4.1.3 静态误差 | 第37页 |
| 4.1.4 动态误差 | 第37-38页 |
| 4.2 保持相建立过程 | 第38-41页 |
| 4.2.1 压摆区 | 第38-41页 |
| 4.2.1.1 单极点运放假设 | 第39-40页 |
| 4.2.1.2 双极点运放假设 | 第40-41页 |
| 4.3 高速高增益运算放大器 | 第41-50页 |
| 4.3.1 两级运算放大器 | 第41-43页 |
| 4.3.2 套筒运算放大器 | 第43-44页 |
| 4.3.3 折叠共源共栅运算放大器 | 第44-46页 |
| 4.3.4 增益的提高 | 第46-50页 |
| 4.3.4.1 两级套筒运算放大器 | 第46页 |
| 4.3.4.2 增益自举运算放大器 | 第46-50页 |
| 4.4 运放指标推导及采用的结构 | 第50-54页 |
| 4.4.1 运放指标推导 | 第50-51页 |
| 4.4.2 采用的运放结构 | 第51-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 采样保持电路设计和仿真 | 第55-66页 |
| 5.1 采样保持电路结构和时序 | 第55页 |
| 5.2 采样开关结构和仿真 | 第55-57页 |
| 5.3 运算放大器的结构和仿真 | 第57-62页 |
| 5.3.1 辅助运放的仿真 | 第57-59页 |
| 5.3.2 主运放的仿真 | 第59-62页 |
| 5.4 采样保持电路系统仿真 | 第62-65页 |
| 5.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 结论 | 第66-68页 |
| 6.1 全文总结 | 第66-67页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第73-74页 |
