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共轭有机分子端基结构调控器件存储性能研究

中文摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第一章 绪论第12-32页
    1.1 引言第12页
    1.2 相变存储材料的研究进展第12-20页
        1.2.1 无机相变材料第13-18页
        1.2.2 高分子相变材料第18-20页
    1.3 分子平面夹角在有机半导体中的研究进展第20-24页
    1.4 有机分子晶体在半导体器件中的应用研究第24-29页
        1.4.1 有机晶体的制备方法第24-26页
        1.4.2 有机晶体的制备以及应用第26-29页
    1.5 本论文的目的意义以及研究内容第29-32页
        1.5.1 本论文选题的目的和意义第29页
        1.5.2 本论文的研究内容第29-31页
        1.5.3 本论文的创新点第31-32页
第二章 侧链共轭聚合物相变及电荷转移双机理调控实现三进制电存储性能研究第32-45页
    2.1 引言第32-33页
    2.2 实验部分第33-37页
        2.2.1 实验原料和试剂第33页
        2.2.2 合成过程第33-36页
        2.2.3 测试仪器第36-37页
        2.2.4 电存储器件制备第37页
    2.3 结果与讨论第37-44页
        2.3.1 聚合物p Cz NIC6和p NCz NIC6表征第37-38页
        2.3.2 薄膜形貌第38-39页
        2.3.3 光学和电化学性能第39-40页
        2.3.4 电流电压性能第40-42页
        2.3.5 存储机理第42-44页
    2.4 本章小结第44-45页
第三章 调控分子内平面夹角对电存储器件性能影响的研究第45-57页
    3.1 引言第45-46页
    3.2 实验部分第46-49页
        3.2.1 实验原料和试剂第46页
        3.2.2 合成步骤第46-48页
        3.2.3 测试仪器第48页
        3.2.4 器件制备第48-49页
    3.3 结果与讨论第49-56页
        3.3.1 有机小分子ID(BT)2 和ID(BF)2 的热稳定性测试第49-50页
        3.3.2 薄膜形貌第50-51页
        3.3.3 光学和电化学性能第51-52页
        3.3.4 I-V性能测试第52-54页
        3.3.5 存储机理第54-56页
    本章小结第56-57页
第四章 有机分子晶体在电存储器件中的研究第57-70页
    4.1 引言第57页
    4.2 实验部分第57-60页
        4.2.1 实验原料及主要试剂第57-58页
        4.2.2 合成步骤第58-59页
        4.2.3 测试仪器第59-60页
        4.2.4 器件制备第60页
    4.3 结果与讨论第60-69页
        4.3.1 热失重分子以及差示扫描量热分析第60-61页
        4.3.2 薄膜形态第61-64页
        4.3.3 光学和电化学性能第64-66页
        4.3.4 电流电压(I-V)性能第66-68页
        4.3.5 存储机理第68-69页
    4.4 本章小结第69-70页
第五章 结论第70-72页
    5.1 全文总结第70-71页
    5.2 存在的问题与展望第71-72页
参考文献第72-82页
攻读硕士学位期间整理以及公开发表的论文第82-83页
致谢第83-84页

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