| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题研究背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 油纸绝缘系统老化机理 | 第9-10页 |
| 1.3 油纸绝缘老化诊断方法 | 第10-12页 |
| 1.3.1 化学分析法 | 第10页 |
| 1.3.2 传统电气测量法 | 第10-11页 |
| 1.3.3 介质响应测量法 | 第11-12页 |
| 1.4 时域介质响应法的研究现状及问题 | 第12-13页 |
| 1.5 本文的主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 时域介质响应测试方法及试验参数优化 | 第15-29页 |
| 2.1 时域介质响应理论 | 第15-18页 |
| 2.1.1 油纸绝缘的极化 | 第15-17页 |
| 2.1.2 时域响应的基本公式 | 第17-18页 |
| 2.2 时域介质响应测试方法 | 第18-21页 |
| 2.2.1 回复电压法的原理及测试过程 | 第18-20页 |
| 2.2.2 极化去极化电流法的原理及测试过程 | 第20-21页 |
| 2.3 油纸绝缘弛豫响应等效电路模型 | 第21-23页 |
| 2.4 试验参数的优化 | 第23-28页 |
| 2.4.1 充电电压的优化 | 第24-25页 |
| 2.4.2 充放电时间比的优化 | 第25-28页 |
| 2.5 小结 | 第28-29页 |
| 第三章 带线型因子的油纸绝缘时域介质响应函数建模 | 第29-47页 |
| 3.1 介质响应函数的扩展 | 第29-30页 |
| 3.1.1 随机弛豫和自由弛豫 | 第29-30页 |
| 3.1.2 带线型因子的介质响应函数建模 | 第30页 |
| 3.2 应用二次时域微分解析介质响应函数 | 第30-38页 |
| 3.2.1 时域微分介电谱的数学分析 | 第31-33页 |
| 3.2.2 基于二次时域微分解析法的参数辨识 | 第33-35页 |
| 3.2.3 实例分析 | 第35-38页 |
| 3.3 基于极化支路数与线型因子的油纸绝缘老化评估 | 第38-46页 |
| 3.3.1 极化支路数与老化的内在联系 | 第39-44页 |
| 3.3.2 线型因子与老化的内在联系 | 第44-46页 |
| 3.4 小结 | 第46-47页 |
| 第四章 油纸绝缘弛豫响应等效电路参数辨识研究 | 第47-58页 |
| 4.1 扩展德拜等效电路模型的参数辨识目标函数 | 第47-50页 |
| 4.1.1 基于回复电压特征量的参数辨识目标函数 | 第47-49页 |
| 4.1.2 基于去极化电流的参数辨识目标函数 | 第49-50页 |
| 4.2 区间—自适应粒子群(I-APSO)算法 | 第50-52页 |
| 4.2.1 区间种群的初始化 | 第50页 |
| 4.2.2 基于自适应因子的粒子更新 | 第50-51页 |
| 4.2.3 最优种群宽度的缩减 | 第51-52页 |
| 4.3 基于I—APSO算法的弛豫响应等效电路参数辨识 | 第52-57页 |
| 4.3.1 等效电路参数辨识流程 | 第52-53页 |
| 4.3.2 实例分析 | 第53-57页 |
| 4.4 小结 | 第57-58页 |
| 第五章 基于时域介质响应特征量的油纸绝缘老化评估 | 第58-72页 |
| 5.1 应用回复电压特征量分析油纸绝缘老化状况 | 第58-62页 |
| 5.1.1 传统回复电压特征量与老化的联系 | 第58-60页 |
| 5.1.2 回复电压半峰值周期与老化的联系 | 第60-62页 |
| 5.2 应用电路参数分析油纸绝缘老化状况 | 第62-65页 |
| 5.2.1 回复电压法 | 第62-63页 |
| 5.2.2 去极化电流法 | 第63-65页 |
| 5.3 应用弛豫能量分析油纸绝缘老化状况 | 第65-66页 |
| 5.4 油纸绝缘成分与时域介电谱的对应关系 | 第66-71页 |
| 5.4.1 油纸绝缘成分与极化谱的对应关系 | 第66-68页 |
| 5.4.2 油纸绝缘成分与去极化电流的对应关系 | 第68-71页 |
| 5.5 小结 | 第71-72页 |
| 结论与展望 | 第72-74页 |
| 一、研究结论 | 第72-73页 |
| 二、研究展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附录 | 第79-81页 |
| 个人简历、在学期间研究成果及发表的学术论文 | 第81-82页 |