| 中文摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第12-34页 |
| 1.1 概述 | 第12页 |
| 1.2 光电化学的基本原理 | 第12-14页 |
| 1.3 铁电材料 | 第14-24页 |
| 1.3.1 铁电材料的简介 | 第14-15页 |
| 1.3.2 铁电光伏效应 | 第15-16页 |
| 1.3.3 铁电材料光电化学性能的研究 | 第16-24页 |
| 1.4 二硫化钼 (MoS_2) | 第24-29页 |
| 1.4.1 MoS_2的结构和性质 | 第24-26页 |
| 1.4.2 MoS_2光电化学性能的研究现状 | 第26-29页 |
| 1.5 本文的选题依据和研究内容 | 第29-31页 |
| 参考文献 | 第31-34页 |
| 第二章 样品的制备、结构及性能表征 | 第34-41页 |
| 2.1 脉冲激光沉积法制备BaTiO_3（BTO）薄膜 | 第34-35页 |
| 2.1.1 脉冲激光沉积原理 | 第34页 |
| 2.1.2 BTO靶材的制备 | 第34-35页 |
| 2.1.3 BTO薄膜的生长 | 第35页 |
| 2.2 溶胶凝胶法制备BiFeO_3（BFO）薄膜 | 第35-36页 |
| 2.2.1 溶胶凝胶法 | 第35-36页 |
| 2.2.2 BFO前驱体的配制 | 第36页 |
| 2.2.3 旋涂法制备BFO薄膜 | 第36页 |
| 2.3 MoS_2纳米片的制备 | 第36-37页 |
| 2.4 样品的结构表征方法 | 第37-38页 |
| 2.4.1 X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD） | 第37页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM） | 第37页 |
| 2.4.3 X射线能量色散谱（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy，EDX/EDS） | 第37页 |
| 2.4.4 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM） | 第37-38页 |
| 2.4.5 拉曼光谱（Raman Spectra） | 第38页 |
| 2.4.6 X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy，XPS） | 第38页 |
| 2.4.7 紫外光电子能谱（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer，UPS） | 第38页 |
| 2.5 样品的性能表征方法 | 第38-40页 |
| 2.5.1 紫外-可见吸收光谱（UV-Vis Absorption Spectra） | 第38-39页 |
| 2.5.2 铁电分析仪 | 第39页 |
| 2.5.3 压电力显微镜（Pizeoforce Microscope，PFM） | 第39页 |
| 2.5.4 光电化学性能测试（Photoelectrochemistry, PEC） | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 MoS_2/BaTiO_3薄膜光电极的制备及其光电化学性能的研究 | 第41-55页 |
| 3.1 引言 | 第41-43页 |
| 3.2 BTO薄膜光电极的制备 | 第43-48页 |
| 3.2.1 不同沉积温度BTO薄膜的XRD测试 | 第43-44页 |
| 3.2.2 不同氧分压BTO薄膜的XRD测试 | 第44-45页 |
| 3.2.3 不同厚度BTO薄膜的XRD测试 | 第45-46页 |
| 3.2.4 不同厚度BTO薄膜的SEM测试 | 第46-47页 |
| 3.2.5 BTO薄膜的电滞回线测试 | 第47页 |
| 3.2.6 不同厚度BTO薄膜的光电化学性能测试 | 第47-48页 |
| 3.3 MoS_2/BTO薄膜光电极的制备 | 第48-52页 |
| 3.3.1 MoS_2/BTO薄膜光电极的形貌及结构表征 | 第50页 |
| 3.3.2 MoS_2/BTO薄膜的光电化学性能测试 | 第50-51页 |
| 3.3.3 MoS_2/BTO薄膜的紫外-可见吸收光谱测试 | 第51-52页 |
| 3.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 第四章 MoS_2/BiFeO_3薄膜光电极的制备及其光电化学性能的研究 | 第55-71页 |
| 4.1 引言 | 第55-57页 |
| 4.2 MoS_2/BFO薄膜光电极的制备 | 第57-68页 |
| 4.2.1 MoS_2/BFO薄膜光电极的形貌及结构表征 | 第57-59页 |
| 4.2.2 MoS_2/BFO薄膜的紫外-可见吸收光谱测试 | 第59-60页 |
| 4.2.3 MoS_2/BFO薄膜的光电化学性能测试 | 第60-61页 |
| 4.2.4 MoS_2/BFO薄膜的IPCE测试 | 第61-62页 |
| 4.2.5 MoS_2/BFO薄膜的光电化学性能增强的机理研究 | 第62-63页 |
| 4.2.6 MoS_2/BFO薄膜的莫特肖特基和UPS测试 | 第63-65页 |
| 4.2.7 BFO薄膜的铁电性能测试 | 第65-66页 |
| 4.2.8 铁电极化对MoS_2/BFO薄膜光电化学性能的影响 | 第66-68页 |
| 4.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 第五章 总结 | 第71-72页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
