| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 选题意义 | 第10-11页 |
| 1.2 研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 国标DSRC协议与ETC系统 | 第18-30页 |
| 2.1 国标DSRC协议 | 第18-22页 |
| 2.1.1 物理层 | 第19页 |
| 2.1.2 数据链路层 | 第19-20页 |
| 2.1.3 应用层 | 第20页 |
| 2.1.4 设备应用层 | 第20-21页 |
| 2.1.5 DSRC设备相关参数测试 | 第21-22页 |
| 2.2 ETC系统 | 第22-29页 |
| 2.2.1 ETC系统中的主要设备 | 第22-24页 |
| 2.2.2 ETC系统工作过程 | 第24-26页 |
| 2.2.3 ETC设备的调试测试 | 第26-28页 |
| 2.2.4 ETC设备的室内测试 | 第28页 |
| 2.2.5 ETC设备的室外测试 | 第28-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 ETC系统测试平台总体搭建 | 第30-37页 |
| 3.1 ETC系统测试平台的需求分析 | 第30-33页 |
| 3.1.1 测试目标 | 第30页 |
| 3.1.2 性能要求 | 第30-31页 |
| 3.1.3 测试内容 | 第31页 |
| 3.1.4 测试流程 | 第31-33页 |
| 3.2 ETC系统测试平台框架设计 | 第33-36页 |
| 3.2.1 ETC系统测试平台总体结构 | 第33-35页 |
| 3.2.2 ETC系统测试平台功能设计 | 第35-36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 测试设备仿真器设计 | 第37-48页 |
| 4.1 测试设备仿真器结构 | 第37-38页 |
| 4.2 测试设备仿真器物理层设计 | 第38-45页 |
| 4.2.1 天线模块设计 | 第38-39页 |
| 4.2.2 射频收发模块设计 | 第39-40页 |
| 4.2.3 MCU主控单元设计 | 第40-42页 |
| 4.2.4 基带电路设计 | 第42-43页 |
| 4.2.5 电源设计 | 第43-45页 |
| 4.3 接口模块设计 | 第45-46页 |
| 4.3.1 以太网络接口 | 第45页 |
| 4.3.2 USB接口 | 第45-46页 |
| 4.4 协议栈设计 | 第46-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 ETC系统测试软件平台设计 | 第48-58页 |
| 5.1 ETC系统测试软件平台开发环境搭建 | 第48-50页 |
| 5.1.1 IBM Rational System Tester | 第48-49页 |
| 5.1.2 MS Visual C++ 2012 | 第49-50页 |
| 5.2 适配器及编解码的实现 | 第50-52页 |
| 5.2.1 适配器的实现 | 第50-51页 |
| 5.2.2 编解码的实现 | 第51-52页 |
| 5.3 TTCN-3 测试套的实现 | 第52-55页 |
| 5.3.1 TTCN-3 测试例 | 第52-53页 |
| 5.3.2 TTCN-3 测试套 | 第53-55页 |
| 5.4 测试日志的实现 | 第55页 |
| 5.5 数据加解密方法 | 第55-57页 |
| 5.6 测试案例分析 | 第57页 |
| 5.7 本章小结 | 第57-58页 |
| 总结与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 攻读学位期间取得的研究成果 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65页 |