系统级嵌入式测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·边界扫描测试技术 | 第10-11页 |
| ·MTM 维修总线技术 | 第11-12页 |
| ·主要内容和章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 系统级测试理论技术 | 第13-32页 |
| ·边界扫描测试技术基本理论 | 第13-23页 |
| ·边界扫描测试结构 | 第13-16页 |
| ·边界扫描测试指令 | 第16-18页 |
| ·边界扫描描述语言 | 第18-20页 |
| ·测试矢量的生成算法 | 第20-21页 |
| ·电路板常见故障及其诊断 | 第21-23页 |
| ·MTM 总线技术基本理论 | 第23-31页 |
| ·MTM 总线结构 | 第23-24页 |
| ·MTM 总线物理层 | 第24页 |
| ·MTM 总线消息层 | 第24-27页 |
| ·MTM 总线链路层 | 第27-30页 |
| ·MTM 总线命令 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第三章 嵌入式可测性设计 | 第32-38页 |
| ·可测性设计定义 | 第32页 |
| ·板级可测性设计方案 | 第32-34页 |
| ·系统级可测性设计方案 | 第34-37页 |
| ·可测性设计方案一 | 第34-35页 |
| ·可测性设计方案二 | 第35-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第四章 边界扫描测试验证平台构建与实验验证 | 第38-55页 |
| ·边界扫描测试验证平台设计要求 | 第38-39页 |
| ·功能要求 | 第38页 |
| ·性能要求 | 第38-39页 |
| ·实验验证平台总体结构设计与实现 | 第39-41页 |
| ·嵌入式测试主控器设计与实现 | 第39页 |
| ·边界扫描验证板设计与实现 | 第39-41页 |
| ·边界扫描测试实验验证 | 第41-54页 |
| ·边界扫描结构完备性测试实验 | 第41-49页 |
| ·电路板器件互联测试实验 | 第49-53页 |
| ·电路板器件内部测试实验 | 第53-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第五章 系统级测试验证平台构建与实验验证 | 第55-71页 |
| ·系统级测试验证平台设计要求 | 第55-56页 |
| ·功能要求 | 第55页 |
| ·性能要求 | 第55-56页 |
| ·系统总体结构设计与实现 | 第56-66页 |
| ·系统主模块设计与实现 | 第56-60页 |
| ·系统从模块设计与实现 | 第60-65页 |
| ·系统底板设计与实现 | 第65-66页 |
| ·上位机部分设计与实现 | 第66页 |
| ·系统级测试平台实验 | 第66-69页 |
| ·系统自测试(BIT) | 第67-68页 |
| ·系统内模块的测试 | 第68-69页 |
| ·小结 | 第69-71页 |
| 第六章 结论 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 附录 | 第75-76页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第76-77页 |
