学位论文数据集 | 第3-4页 |
摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第17-31页 |
1.1 课题研究背景 | 第17-19页 |
1.1.1 乏燃料后处理 | 第17-18页 |
1.1.2 盐湖水治理 | 第18页 |
1.1.3 废水处理 | 第18-19页 |
1.2 废水处理方法 | 第19-20页 |
1.3 固相吸附材料 | 第20-22页 |
1.3.1 碳纳米管 | 第20页 |
1.3.2 氧化石墨烯 | 第20-21页 |
1.3.3 介孔材料 | 第21-22页 |
1.3.4 金属有机骨架材料(MOFs) | 第22页 |
1.4 金属有机骨架材料(MOFs) | 第22-26页 |
1.4.1 金属有机骨架材料分类 | 第22-25页 |
1.4.1.1 IRMOF系列材料 | 第23页 |
1.4.1.2 具有孔笼-孔道结构的MOF材料 | 第23页 |
1.4.1.3 MIL系列材料 | 第23-24页 |
1.4.1.4 PCN系列材料 | 第24页 |
1.4.1.5 UiO-66系列材料 | 第24-25页 |
1.4.2 金属有机骨架材料的应用 | 第25-26页 |
1.4.2.1 氢气存储 | 第25页 |
1.4.2.2 二氧化碳吸附 | 第25-26页 |
1.4.2.3 气体吸附分离 | 第26页 |
1.4.2.4 催化 | 第26页 |
1.4.2.5 药物载体和药物释放 | 第26页 |
1.4.2.6 吸附 | 第26页 |
1.5 MOFs材料在镧锕系元素分离中的应用 | 第26-27页 |
1.6 论文立意 | 第27-29页 |
1.7 本文研究的主要内容 | 第29-31页 |
第二章 实验部分 | 第31-33页 |
2.1 实验原料与试剂 | 第31页 |
2.2 实验仪器 | 第31-32页 |
2.3 样品制备 | 第32-33页 |
2.3.1 同步辐射样品制备 | 第32页 |
2.3.2 正电子湮没实验样品制备 | 第32-33页 |
第三章 UiO-66及其羧酸衍生物的制备及表征 | 第33-39页 |
3.1 UiO-66及其羧酸衍生物制备 | 第33页 |
3.2 UiO-66及其羧酸衍生物表征 | 第33-37页 |
3.2.1 粉末X射线衍射仪(PXRD) | 第33-34页 |
3.2.2 氮气吸附/脱附实验 | 第34-35页 |
3.2.3 红外光谱分析 | 第35-36页 |
3.2.4 热重分析 | 第36-37页 |
3.3 小结 | 第37-39页 |
第四章 UiO-66及其羧酸衍生物对Th(Ⅳ)的吸附性能研究 | 第39-57页 |
4.1 吸附实验 | 第39-40页 |
4.1.1 pH对吸附行为的影响 | 第39页 |
4.1.2 吸附动力学研究 | 第39页 |
4.1.3 不同初始浓度对吸附行为的影响 | 第39页 |
4.1.4 离子强度对吸附行为影响 | 第39-40页 |
4.1.5 离子选择性研究 | 第40页 |
4.1.6 脱附实验 | 第40页 |
4.2 溶液浓度测量 | 第40-41页 |
4.3 结果与讨论 | 第41-50页 |
4.3.1 溶液pH影响 | 第41-42页 |
4.3.2 吸附动力学 | 第42-44页 |
4.3.3 吸附等温线 | 第44-46页 |
4.3.4 离子强度影响 | 第46-47页 |
4.3.5 离子选择性 | 第47-48页 |
4.3.6 材料稳定性 | 第48-49页 |
4.3.7 循环利用 | 第49-50页 |
4.4 吸附机理探究 | 第50-54页 |
4.4.1 FTIR表征 | 第50-53页 |
4.4.2 EXAFS (X射线拓展边精细结构谱)分析 | 第53-54页 |
4.5 小结 | 第54-57页 |
第五章 UiO-66及其羧酸衍生物对Eu(Ⅲ)的吸附性能研究 | 第57-71页 |
5.1 吸附实验 | 第57-58页 |
5.1.1 pH对吸附行为的影响 | 第57页 |
5.1.2 吸附动力学研究 | 第57页 |
5.1.3 不同初始浓度对吸附行为的影响 | 第57-58页 |
5.1.4 离子强度对吸附行为影响 | 第58页 |
5.1.5 腐殖酸对吸附行为的影响 | 第58页 |
5.2 结果与讨论 | 第58-66页 |
5.2.1 溶液pH影响 | 第58-59页 |
5.2.2 吸附动力学 | 第59-61页 |
5.2.3 吸附等温线 | 第61-64页 |
5.2.4 离子强度影响 | 第64-65页 |
5.2.5 腐殖酸影响 | 第65-66页 |
5.3 吸附机理 | 第66-69页 |
5.3.1 红外光谱 | 第66-68页 |
5.3.2 正电子湮没寿命谱(PALS) | 第68-69页 |
5.4 小结 | 第69-71页 |
第六章 结论 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-81页 |
致谢 | 第81-83页 |
作者和导师简介 | 第83-85页 |
附件 | 第85-87页 |