keV电子致Al的K壳层电离截面和Se的L壳层X射线产生截面的测量研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第9-18页 |
| 1.1 研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 研究历史与现状 | 第11-16页 |
| 1.3 研究目的 | 第16-18页 |
| 第2章 光子-电子蒙特卡罗模拟 | 第18-25页 |
| 2.1 蒙特卡罗方法简介 | 第18-20页 |
| 2.1.1 蒙特卡罗基本思想和特点 | 第18-20页 |
| 2.1.2 蒙特卡罗方法解决问题步骤 | 第20页 |
| 2.2 蒙特卡罗软件PENELOPE | 第20-25页 |
| 2.2.1 PENELOPE软件的介绍 | 第20-21页 |
| 2.2.2 PENELOPE软件计算过程 | 第21-25页 |
| 第3章 实验 | 第25-33页 |
| 3.1 实验装置和实验靶 | 第25-28页 |
| 3.1.1 实验装置介绍 | 第25-27页 |
| 3.1.2 实验靶的介绍 | 第27-28页 |
| 3.2 SDD探测器的刻度 | 第28-33页 |
| 3.2.1 SDD探测器的能量刻度 | 第28-29页 |
| 3.2.2 SDD探测器的效率刻度 | 第29-33页 |
| 第4章 数据处理 | 第33-41页 |
| 4.1 特征峰净计数的获取 | 第33-34页 |
| 4.2 电子致原子内壳层电离截面的获取 | 第34-37页 |
| 4.3 修正计算 | 第37-40页 |
| 4.4 误差分析 | 第40-41页 |
| 第5章 实验结果及分析 | 第41-45页 |
| 5.1 Al的K壳层的电离截面 | 第41-42页 |
| 5.2 Se的总L壳层特征X射线产生截面 | 第42-45页 |
| 第6章 结论与展望 | 第45-46页 |
| 6.1 结论 | 第45页 |
| 6.2 展望 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-56页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
