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keV电子致Al的K壳层电离截面和Se的L壳层X射线产生截面的测量研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第1章 引言第9-18页
    1.1 研究意义第10-11页
    1.2 研究历史与现状第11-16页
    1.3 研究目的第16-18页
第2章 光子-电子蒙特卡罗模拟第18-25页
    2.1 蒙特卡罗方法简介第18-20页
        2.1.1 蒙特卡罗基本思想和特点第18-20页
        2.1.2 蒙特卡罗方法解决问题步骤第20页
    2.2 蒙特卡罗软件PENELOPE第20-25页
        2.2.1 PENELOPE软件的介绍第20-21页
        2.2.2 PENELOPE软件计算过程第21-25页
第3章 实验第25-33页
    3.1 实验装置和实验靶第25-28页
        3.1.1 实验装置介绍第25-27页
        3.1.2 实验靶的介绍第27-28页
    3.2 SDD探测器的刻度第28-33页
        3.2.1 SDD探测器的能量刻度第28-29页
        3.2.2 SDD探测器的效率刻度第29-33页
第4章 数据处理第33-41页
    4.1 特征峰净计数的获取第33-34页
    4.2 电子致原子内壳层电离截面的获取第34-37页
    4.3 修正计算第37-40页
    4.4 误差分析第40-41页
第5章 实验结果及分析第41-45页
    5.1 Al的K壳层的电离截面第41-42页
    5.2 Se的总L壳层特征X射线产生截面第42-45页
第6章 结论与展望第45-46页
    6.1 结论第45页
    6.2 展望第45-46页
参考文献第46-56页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第56-57页
致谢第57页

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