摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.2 辐射测温技术的概述 | 第12-14页 |
1.2.1 亮度温度计 | 第12-13页 |
1.2.2 单点比色测温仪 | 第13页 |
1.2.3 单目面阵式辐射测温仪 | 第13-14页 |
1.3 基于面阵CCD的比色测温仪的研究 | 第14-15页 |
1.4 论文的主要研究内容 | 第15-17页 |
第2章 双目面阵CCD比色测温模型 | 第17-29页 |
2.1 辐射测温理论 | 第17-19页 |
2.1.1 普朗克辐射定律 | 第17-18页 |
2.1.2 维恩位移定律 | 第18-19页 |
2.2 面阵CCD工作机理研究 | 第19-22页 |
2.2.1 CCD像素点的光电转换与存储 | 第20-21页 |
2.2.2 CCD感应电荷的转移及放大 | 第21-22页 |
2.3 双目面阵CCD比色测温模型的建立 | 第22-26页 |
2.3.1 理想化模型假设 | 第23-24页 |
2.3.2 比色关系式推导 | 第24-26页 |
2.4 比色测温公式的推导 | 第26-27页 |
2.5 本章小结 | 第27-29页 |
第3章 系统总体方案设计 | 第29-39页 |
3.1 系统方案设计要求 | 第29-30页 |
3.2 系统方案设计分析 | 第30-36页 |
3.2.1 光路系统设计 | 第31-32页 |
3.2.2 双色波长及滤光片选择 | 第32-33页 |
3.2.3 CCD图像采集方案的选择 | 第33-34页 |
3.2.4 图像处理端方案选择 | 第34-35页 |
3.2.5 图像传输方式方案选择 | 第35-36页 |
3.3 系统总体设计方案 | 第36-37页 |
3.4 本章小结 | 第37-39页 |
第4章 系统硬件电路设计 | 第39-55页 |
4.1 系统硬件总体设计 | 第39-40页 |
4.2 CCD图像采集电路设计 | 第40-46页 |
4.2.1 CCD驱动电路和模拟前端的方案选择 | 第40-41页 |
4.2.2 基于AD9995的CCD图像采集电路的设计 | 第41-44页 |
4.2.3 CCD图像采集板与DM643接口设计 | 第44-45页 |
4.2.4 CCD图像采集电路的PCB设计 | 第45-46页 |
4.3 DM643核心板外扩存储器设计 | 第46-49页 |
4.3.1 片外数据存储器SDRAM的扩展 | 第47-48页 |
4.3.2 片外程序存储器FLASH的扩展 | 第48-49页 |
4.4 DM643核心板以太网接口电路设计 | 第49-51页 |
4.5 DM643内核及I/O供电设计 | 第51-53页 |
4.6 DM643核心板PCB板设计 | 第53-54页 |
4.7 本章小结 | 第54-55页 |
第5章 系统软件设计 | 第55-75页 |
5.1 系统软件工作分析 | 第55-56页 |
5.2 CCD传感器图像采集驱动时序设计 | 第56-57页 |
5.2.1 ICX424AL驱动时序分析 | 第56-57页 |
5.2.2 AD9995的模式配置 | 第57页 |
5.3 DM643核心板采集双路RAW图像及以EMAC配置 | 第57-65页 |
5.3.1 DM643图像采集端口时序设置 | 第59-60页 |
5.3.2 外扩存储器接口EMIF的配置 | 第60-61页 |
5.3.3 双路DMA配置 | 第61-62页 |
5.3.4 EMAC配置与图像传输设计 | 第62-65页 |
5.4 比色测温模型的DSP算法实现 | 第65-74页 |
5.4.1 有效灰度图像提取 | 第66-68页 |
5.4.2 图像去噪处理 | 第68-70页 |
5.4.3 比色测温算法实现 | 第70-71页 |
5.4.4 DM643控制算法优化 | 第71-74页 |
5.5 Windows应用程序设计 | 第74页 |
5.6 本章小结 | 第74-75页 |
第6章 系统参数标定及实验分析 | 第75-85页 |
6.1 双镜头的一致性调节 | 第75-80页 |
6.1.1 视场和焦距的一致性调节 | 第76-79页 |
6.1.2 光圈大小的一致性调节 | 第79-80页 |
6.2 利用黑体炉求得仪表系数 | 第80-82页 |
6.3 比色测温算法的验证 | 第82-85页 |
第7章 总结与展望 | 第85-87页 |
7.1 工作总结 | 第85页 |
7.2 未来展望 | 第85-87页 |
参考文献 | 第87-91页 |
致谢 | 第91页 |