邮寄包装内部存储介质识别方法研究
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 课题背景及研究意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外安检设备现状 | 第11-14页 |
1.2.1 安检设备的种类 | 第11-13页 |
1.2.2 国内外安检产品的发展现状 | 第13-14页 |
1.3 国内外存储介质的识别现状 | 第14-15页 |
1.4 论文主要工作内容 | 第15-16页 |
第2章 存储介质识别仪结构设计 | 第16-25页 |
2.1 存储介质识别仪结构组成 | 第16-19页 |
2.1.1 X射线源 | 第16-17页 |
2.1.2 平板型X射线阵列探测器 | 第17-18页 |
2.1.3 滚轴电机 | 第18-19页 |
2.2 存储介质识别仪结构设计 | 第19-24页 |
2.3 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 存储介质X射线透照图像采集 | 第25-31页 |
3.1 X射线 | 第25-26页 |
3.2 实验设备 | 第26-27页 |
3.3 图像采集 | 第27-30页 |
3.4 本章小结 | 第30-31页 |
第4章 典型算法存储介质图像预处理 | 第31-48页 |
4.1 数字图像处理技术概述 | 第31页 |
4.2 数字图像处理系统 | 第31-32页 |
4.3 图像降噪 | 第32-34页 |
4.3.1 中值滤波 | 第32-33页 |
4.3.2 邻域均值滤波 | 第33-34页 |
4.4 图像增强 | 第34-42页 |
4.4.1 直方图均衡化 | 第35-36页 |
4.4.2 图像的锐化 | 第36-39页 |
4.4.3 灰度变换 | 第39-42页 |
4.5 图像分割 | 第42-47页 |
4.5.1 阈值分割法 | 第42-45页 |
4.5.2 区域生长分割法 | 第45-47页 |
4.6 本章总结 | 第47-48页 |
第5章 晶莹剔透法存储介质图像预处理 | 第48-59页 |
5.1 晶莹剔透法 | 第48页 |
5.2 各种存储介质图像晶莹剔透法处理过程 | 第48-58页 |
5.2.1 各种存储介质图像中值滤波 | 第49页 |
5.2.2 晶莹剔透法图像灰度增强 | 第49-54页 |
5.2.3 晶莹剔透法图像分割 | 第54-58页 |
5.3 本章小结 | 第58-59页 |
第6章 存储介质图像特征提取与分析 | 第59-78页 |
6.1 图像特征的基本概念 | 第59页 |
6.2 图像边缘检测 | 第59-69页 |
6.2.1 典型边缘检测方法 | 第59-63页 |
6.2.2 基于数学形态学的方法 | 第63-66页 |
6.2.3 各种边缘检测算子图像效果对比 | 第66-69页 |
6.3 图像轮廓提取 | 第69页 |
6.4 图像矩不变量特征提取 | 第69-77页 |
6.4.1 Hu矩不变量特征算法 | 第69-71页 |
6.4.2 改进的矩不变量特征算法 | 第71-72页 |
6.4.3 图像矩不变量特征提取结果 | 第72-75页 |
6.4.4 K-means聚类算法图像分类及识别 | 第75-77页 |
6.5 本章小结 | 第77-78页 |
第7章 结论与展望 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
致谢 | 第84页 |