| 上海交通大学硕士学位论文答辩决议书 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 课题的来源及目的意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 课题的来源 | 第11-12页 |
| 1.1.2 课题研究的目的和意义 | 第12-13页 |
| 1.2 课题的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 一体机液晶屏设计结构及实验设计方法概念 | 第15-36页 |
| 2.1 一体机触摸液晶屏模组结构简介及工厂生产环境简介 | 第15-20页 |
| 2.1.1 一体机触摸液晶屏模组结构简介 | 第15-16页 |
| 2.1.2 触摸液晶屏的结构说明 | 第16-19页 |
| 2.1.3 无尘室环境及等级说明 | 第19-20页 |
| 2.2 概念及文献综述 | 第20-34页 |
| 2.2.1 六西格玛（6SIGMA）理论 | 第20-23页 |
| 2.2.2 DMAIC概念模型 | 第23-24页 |
| 2.2.3 田口设计方法概念 | 第24-25页 |
| 2.2.4 田口设计相关术语 | 第25-26页 |
| 2.2.5 质量损失函数 | 第26-28页 |
| 2.2.6 信噪比SN | 第28-29页 |
| 2.2.7 田口正交设计的试验步骤 | 第29-34页 |
| 2.3 六西格玛及田口实验设计国内外现况分析 | 第34-36页 |
| 2.3.1 六西格玛理论研究现况 | 第34页 |
| 2.3.2 田口设计的研究现况 | 第34-36页 |
| 第三章 液晶屏模组异物问题的分析及方案拟定 | 第36-47页 |
| 3.1 P触摸液晶屏模组在市场端及工厂良率表现 | 第36-40页 |
| 3.2 异物材质分析及改善方向拟定 | 第40-45页 |
| 3.2.2 异物问题产生的分析过程 | 第42-45页 |
| 3.3 异物改善团队建立及计划实施 | 第45-47页 |
| 第四章 田口实验设计在液晶屏模组异物改善中的应用 | 第47-71页 |
| 4.1 实验设计步骤 | 第47-55页 |
| 4.2 异物改善的参数优化论证 | 第55-57页 |
| 4.2.1 一体机液晶模组良率追溯 | 第56页 |
| 4.2.2 异物改善的参数验证 | 第56-57页 |
| 4.3 异物改善长期标准化控制 | 第57-68页 |
| 4.3.1 液晶显示屏厂商端制程标准化 | 第58页 |
| 4.3.2 一体机代工厂生产制程标准化 | 第58-64页 |
| 4.3.3 无尘室环境管制标准化 | 第64-68页 |
| 4.4 无尘室良率改善及效益节省 | 第68-71页 |
| 4.4.1 P公司无尘室良率改善推移图 | 第68-69页 |
| 4.4.2 无尘室效益节省总结 | 第69-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第71页 |
| 5.2 课题结论 | 第71-72页 |
| 5.3 本文的不足及展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第76页 |