基于光谱和成像分析的液体包装泄漏检测系统
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12页 |
| 1.2 泄漏检测技术研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4 本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 系统原理 | 第16-27页 |
| 2.1 系统流程 | 第16-17页 |
| 2.2 荧光光谱 | 第17-18页 |
| 2.2.1 荧光光谱泄漏检测原理 | 第17页 |
| 2.2.2 荧光光谱技术 | 第17-18页 |
| 2.3 近红外光谱 | 第18-21页 |
| 2.3.1 近红外光谱泄漏检测原理 | 第18页 |
| 2.3.2 近红外光谱技术 | 第18-21页 |
| 2.4 图像处理算法 | 第21-25页 |
| 2.4.1 图像边缘检测原理 | 第21-22页 |
| 2.4.2 图像预处理 | 第22-24页 |
| 2.4.3 阈值处理 | 第24-25页 |
| 2.4.4 缺陷修补 | 第25页 |
| 2.4.5 轮廓提取 | 第25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 荧光光谱泄漏检测方法 | 第27-35页 |
| 3.1 荧光光谱法的装置 | 第27-28页 |
| 3.2 硬件选型 | 第28-29页 |
| 3.2.1 光源 | 第28-29页 |
| 3.2.2 光电探测器 | 第29页 |
| 3.2.3 滤光片 | 第29页 |
| 3.3 荧光光谱测试 | 第29-34页 |
| 3.3.1 测试过程及结果 | 第30-33页 |
| 3.3.2 测试结果分析 | 第33-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 近红外光谱泄漏检测方法 | 第35-41页 |
| 4.1 近红外光谱法的装置 | 第35-36页 |
| 4.2 硬件选型 | 第36-38页 |
| 4.2.1 光源 | 第37页 |
| 4.2.2 相机 | 第37-38页 |
| 4.3 近红外光谱测试 | 第38-40页 |
| 4.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 液体包装泄漏检测系统 | 第41-59页 |
| 5.1 系统硬件参数 | 第41-42页 |
| 5.1.1 光源 | 第41-42页 |
| 5.1.2 相机 | 第42页 |
| 5.2 图像采集结果及分析 | 第42-50页 |
| 5.2.1 光源强度 | 第42-44页 |
| 5.2.2 识别角度和形态 | 第44-46页 |
| 5.2.3 识别精度 | 第46-48页 |
| 5.2.4 抗环境干扰性 | 第48页 |
| 5.2.5 适用范围 | 第48-50页 |
| 5.3 算法实现 | 第50-55页 |
| 5.3.1 图像处理方案 | 第50-52页 |
| 5.3.2 滤波 | 第52-53页 |
| 5.3.3 阈值处理 | 第53-54页 |
| 5.3.4 形态学运算 | 第54-55页 |
| 5.3.5 轮廓提取 | 第55页 |
| 5.4 泄漏识别 | 第55-58页 |
| 5.4.1 泄漏识别的量化指标 | 第55-57页 |
| 5.4.2 泄漏标记结果 | 第57-58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 总结及展望 | 第59-61页 |
| 6.1 总结 | 第59-60页 |
| 6.2 工作展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 作者简历 | 第65页 |
