基于LabVIEW的继电器老化平台设计与实现
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题研究的背景 | 第8-9页 |
| 1.2 继电器检测方法概述 | 第9-10页 |
| 1.3 虚拟仪器的概念 | 第10-12页 |
| 1.3.1 虚拟仪器的构成和功能 | 第10-12页 |
| 1.3.2 虚拟仪器的特点 | 第12页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第12-14页 |
| 第2章 继电器特性及测试原理分析 | 第14-24页 |
| 2.1 几种继电器特性介绍 | 第14-17页 |
| 2.1.1 时间继电器主要特性 | 第14页 |
| 2.1.2 固体继电器主要特性 | 第14-17页 |
| 2.2 继电器的主要电参数 | 第17-19页 |
| 2.2.1 时间继电器的电参数 | 第17-18页 |
| 2.2.2 固体继电器的电参数 | 第18-19页 |
| 2.3 继电器参数的测试方法 | 第19-21页 |
| 2.3.1 IC标准对继电器试验的要求 | 第19-20页 |
| 2.3.2 测试方法和测试参数 | 第20-21页 |
| 2.4 继电器老化平台的技术指标 | 第21-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-24页 |
| 第3章 继电器老化平台硬件设计 | 第24-42页 |
| 3.1 继电器检老化平台功能需求 | 第24页 |
| 3.2 系统架构设计 | 第24-30页 |
| 3.2.1 工业控制计算机 | 第26-27页 |
| 3.2.2 DAQ板卡 | 第27-30页 |
| 3.3 数据采集板 | 第30-38页 |
| 3.3.1 信号调理电路 | 第30-33页 |
| 3.3.2 AD/FIFO模块设计 | 第33-37页 |
| 3.3.3 ISA底板接口 | 第37页 |
| 3.3.4 电源电路 | 第37-38页 |
| 3.4 平台接口 | 第38-40页 |
| 3.4.1 继电器触点类 | 第38-39页 |
| 3.4.2 继电器接线 | 第39-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第4章 继电器老化平台软件设计 | 第42-72页 |
| 4.1 老化设置 | 第43-47页 |
| 4.1.1 老化时序 | 第44页 |
| 4.1.2 路号设置 | 第44-46页 |
| 4.1.3 自检/自校 | 第46-47页 |
| 4.2 老化过程 | 第47-57页 |
| 4.2.1 测量时间数据分析处理 | 第51-54页 |
| 4.2.2 触点压降 | 第54-57页 |
| 4.3 报表生成 | 第57-63页 |
| 4.3.1 报表的显示 | 第57-62页 |
| 4.3.2 故障检测报表的打印 | 第62-63页 |
| 4.3.3 报表的保存 | 第63页 |
| 4.3.4 查看老化数据 | 第63页 |
| 4.4 FPGA_DAQ数据采集软件设计 | 第63-70页 |
| 4.4.1 采集卡的驱动 | 第63-66页 |
| 4.4.2 DAQ数据采集 | 第66-70页 |
| 4.4.3 采集定时 | 第70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-72页 |
| 第5章 继电器老化试验与数据分析 | 第72-82页 |
| 5.1 老化试验 | 第72-78页 |
| 5.1.1 老化设置 | 第72-75页 |
| 5.1.2 老化过程 | 第75-76页 |
| 5.1.3 报表生成 | 第76-78页 |
| 5.2 数据分析 | 第78-80页 |
| 5.3 本章小结 | 第80-82页 |
| 总结 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 致谢 | 第88-90页 |
