| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 弹痕的形成过程 | 第13-16页 |
| 1.3 弹痕识别技术的研究现状 | 第16-20页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第16-19页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第19-20页 |
| 1.4 数字滤波器技术的研究现状 | 第20-21页 |
| 1.5 本文的主要研究工作 | 第21-23页 |
| 第2章 弹痕识别系统的构建与弹痕特征分析 | 第23-38页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 弹痕的测量方法 | 第23-26页 |
| 2.2.1 光学图像采集 | 第23-25页 |
| 2.2.2 三维形貌测量 | 第25-26页 |
| 2.3 弹痕识别系统的构建 | 第26-31页 |
| 2.3.1 系统构成 | 第26-28页 |
| 2.3.2 测量仪器的再现性测试 | 第28-29页 |
| 2.3.3 实验样本的测量与分析 | 第29-31页 |
| 2.4 二维数字滤波器在弹痕特征提取中存在的问题 | 第31-35页 |
| 2.4.1 二维高斯滤波器 | 第31-33页 |
| 2.4.2 二维高斯回归滤波器 | 第33-35页 |
| 2.5 弹底窝痕迹的NCC匹配实验 | 第35-37页 |
| 2.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 一维逼近样条滤波器边缘效应问题的研究 | 第38-55页 |
| 3.1 引言 | 第38页 |
| 3.2 一维样条滤波器传输特性与边缘效应关系的分析 | 第38-43页 |
| 3.2.1 样条滤波器的求解分析 | 第38-41页 |
| 3.2.2 样条滤波器传输特性分析 | 第41-43页 |
| 3.3 样条滤波器边界条件对边缘失真的影响 | 第43-54页 |
| 3.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 底火弹痕表面微观特征提取技术的研究 | 第55-66页 |
| 4.1 引言 | 第55页 |
| 4.2 二维各向同性样条滤波器的创建 | 第55-59页 |
| 4.3 底火弹痕三维形貌的滤波实验 | 第59-65页 |
| 4.3.1 二维各向同性样条滤波器性能测试 | 第59-62页 |
| 4.3.2 弹痕表面滤波测试 | 第62-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第5章 基于全元匹配方法的弹底窝痕迹识别技术研究 | 第66-84页 |
| 5.1 引言 | 第66页 |
| 5.2 针对弹痕三维形貌的匹配算法研究 | 第66-74页 |
| 5.2.1 空白区域对NCC函数匹配结果的影响 | 第66-69页 |
| 5.2.2 基于有效数据的NCC（VDNCC）函数 | 第69-71页 |
| 5.2.3 VDNCC求解方法 | 第71-74页 |
| 5.3 全元匹配（CMC）方法的建立 | 第74-78页 |
| 5.3.1 基本概念 | 第74-76页 |
| 5.3.2 CMC方法的实现 | 第76-78页 |
| 5.4 弹底窝痕迹的三维形貌与光学图像的识别及分析 | 第78-83页 |
| 5.5 本章小结 | 第83-84页 |
| 第6章 用于击针痕迹识别的改进的全元匹配方法研究 | 第84-97页 |
| 6.1 引言 | 第84页 |
| 6.2 CMC单元一致性判定过程的分析 | 第84-87页 |
| 6.3 ICMC方法的建立 | 第87-91页 |
| 6.4 击针痕迹识别的实验与分析 | 第91-96页 |
| 6.5 本章小结 | 第96-97页 |
| 结论 | 第97-99页 |
| 参考文献 | 第99-107页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第107-109页 |
| 致谢 | 第109-110页 |
| 个人简历 | 第110页 |
