摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-20页 |
1.1 前言 | 第9-11页 |
1.2 压电陶瓷概述 | 第11-18页 |
1.2.1 Zr/Ti对压电陶瓷结构的影响 | 第11页 |
1.2.2 压电陶瓷的基本参数 | 第11-13页 |
1.2.3 掺杂改性 | 第13-15页 |
1.2.4 准同型相界 | 第15-16页 |
1.2.5 极化条件 | 第16-17页 |
1.2.6 大应变压电陶瓷 | 第17-18页 |
1.3 选题背景及意义 | 第18-20页 |
第二章 实验过程与测试 | 第20-25页 |
2.1 实验设计 | 第20页 |
2.2 实验原料及仪器 | 第20-21页 |
2.3 工艺流程 | 第21-23页 |
2.4 性能测试 | 第23-25页 |
第三章 PSN-PNN-PZT系统准同型相界的研究 | 第25-39页 |
3.1 PSN含量的影响 | 第25-33页 |
3.1.1 物相分析 | 第25-28页 |
3.1.2 压电介电性能 | 第28-32页 |
3.1.3 居里温度 | 第32-33页 |
3.2 烧结温度的影响 | 第33-35页 |
3.2.1 烧结温度对微观形貌的影响 | 第33-34页 |
3.2.2 烧结温度对电学性能的影响 | 第34-35页 |
3.3 应变曲线 | 第35-37页 |
3.4 本章小结 | 第37-39页 |
第四章 0.015PSN-0.3PNN-0.685PZT陶瓷制备工艺与性能的研究 | 第39-58页 |
4.1 合成温度对 0.015PSN-0.3PNN-0.685PZT陶瓷的性能影响 | 第40-45页 |
4.1.1 差热-热重分析 | 第40-41页 |
4.1.2 物相分析 | 第41-42页 |
4.1.3 压电介电性能 | 第42-43页 |
4.1.4 显微结构 | 第43-45页 |
4.2 0.015PSN-0.3PNN-0.685PZT陶瓷的性能研究 | 第45-53页 |
4.2.1 XRD | 第45-46页 |
4.2.2 性能 | 第46-49页 |
4.2.3 应变性能 | 第49-53页 |
4.3 极化工艺 | 第53-55页 |
4.4 老化性能 | 第55-56页 |
4.5 本章小结 | 第56-58页 |
第五章 La掺杂0.015PSN-0.3PNN-0.685PZT陶瓷的性能研究 | 第58-67页 |
5.1 镧掺杂量对0.015PSN-0.3PNN-0.685PZT陶瓷性能的影响 | 第58-64页 |
5.1.1 不同La掺杂量对陶瓷的电学性能的影响 | 第58-60页 |
5.1.2 不同La掺杂量的居里温度 | 第60-61页 |
5.1.3 烧结温度对La掺杂陶瓷的影响 | 第61-64页 |
5.2 不同锆钛比对陶瓷性能的影响 | 第64-66页 |
5.2.1 物相分析 | 第64-65页 |
5.2.2 性能研究 | 第65-66页 |
5.3 本章小结 | 第66-67页 |
第六章 结论 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-74页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第74-75页 |
致谢 | 第75-76页 |