| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| 1.1 红外热成像技术的发展概况 | 第7-9页 |
| 1.2 红外热成像技术的发展重点和方向 | 第9页 |
| 1.3 红外图像增强方法的发展现状 | 第9-10页 |
| 1.4 本论文主要工作和内容安排 | 第10-12页 |
| 2 红外成像系统成像理论 | 第12-19页 |
| 2.1 红外探测器成像机理 | 第12-13页 |
| 2.2 红外成像系统构架以及特点 | 第13-16页 |
| 2.3 原始红外图像数据特点以及图像处理关键技术 | 第16-17页 |
| 2.4 本章小结 | 第17-19页 |
| 3 红外图像非均匀性校正技术 | 第19-44页 |
| 3.1 当前非均匀性校正技术 | 第20-23页 |
| 3.1.1 基于定标的非均匀性校正方法研究现状 | 第20-22页 |
| 3.1.2 基于场景的非均匀性校正方法研究现状 | 第22-23页 |
| 3.2 以定标为基础的新型红外图像非均匀性校正技术 | 第23-32页 |
| 3.2.1 基于A/D驱动电路级的非均匀性校正技术 | 第24-27页 |
| 3.2.2 基于红外探测器校正字匹配的片上非均匀性校正技术 | 第27-32页 |
| 3.3 基于无挡片的非均匀性校正技术 | 第32-35页 |
| 3.4 基于场景的非均匀性校正技术 | 第35-43页 |
| 3.4.1 基于SURF的图像配准方法 | 第36-39页 |
| 3.4.2 校正参数修正 | 第39-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 4 红外图像对比度增强技术 | 第44-58页 |
| 4.1 当前条纹噪声滤除技术 | 第44-47页 |
| 4.2 基于自适应灰度调节的条纹噪声去除方法 | 第47-52页 |
| 4.2.1 条纹噪声频谱分析 | 第47-48页 |
| 4.2.2 条纹噪声频谱的列直方图计算 | 第48-49页 |
| 4.2.3 新的列图像直方图的产生 | 第49-52页 |
| 4.3 当前直方图均衡方法 | 第52-54页 |
| 4.4 动态范围自适应调整的双平台直方图均衡方法 | 第54-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 5 红外图像细节增强技术 | 第58-72页 |
| 5.1 改进的BF&DRP图像细节增强技术 | 第59-63页 |
| 5.1.1 基于非线性滤波器的图像基频细节分离技术 | 第60-61页 |
| 5.1.2 基于自适应高斯滤波器的细节图像优化技术 | 第61-62页 |
| 5.1.3 基于冗余灰度的直方图投影技术 | 第62-63页 |
| 5.1.4 细节图像的自适应增益控制 | 第63页 |
| 5.2 基于多层分离的BF&DRP图像细节增强技术 | 第63-71页 |
| 5.2.1 基于改进的梯度倒数加权滤波器的孤立噪声定位和滤除技术 | 第64-66页 |
| 5.2.2 基于双边滤波的多层图像分离技术 | 第66-68页 |
| 5.2.3 多层图像自适应放大技术 | 第68-71页 |
| 5.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 6 结束语 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 附录 | 第78页 |
